两大原因让无线IC测试日渐频繁

在现代社会中，无线设备越来越成为不可缺少的生活组成部分。消费者的购买需求促使生产方将智能产品的生产成本进一步降低，同时也对工程师应用研发和测试提出了更高的要求。本文通过两个方面的阐述分析，解释了当下无线IC测试越发频繁的问题所在。

比无线IC预报更低的平均售价

随着无线设备单位体积的增长，无线芯片组的成本稳步下降已经超过十年，在可以预见的未来，这种下降趋势还会持续。事实上，近期的市场报告预测，从2011到2019年，移动设备模拟IC的平均销售价格（ASP）降价将超过30%。

无线IC价格下降的趋势并不令人意外，但它有助于工程师应对测试（射频集成电路）RFIC和移动设备不断增长的挑战。由于价格下降，测试成本也随之下降，以确保产品保持经济上的可行性。

然而，根据ASP数据显示，无线设备或IC测试的挑战在八年中降低了30%以上。事实上，制造成本压力还伴随着产品复杂性急剧上升。增加的蜂窝频段，新的波形类型和更多Wifi配置等因素，不可避免地导致了更多的测试工作。

手机复杂性

最能说明手机复杂性的例子就是智能手机。在过去的十五年里，越来越多的无线设备存在于移动设备上。在2000年，一部手机支持两个GSM频段是很常见的。到2005年，GSM频段由两个增加到了四个。到2010年，手机开始增加应用UMTS技术的GSM/EDGE无线电，以及Wifi，蓝牙和GPS等无线技术。随着LTE，802.11n/ac甚至是NFC的推出，这一趋势在过去的五年里一直延续下来。

展望2020年，这种不断增长的复杂性仍将继续。我们的行业还可能会广泛采用附加的Wi-Fi技术，如802.11p标准，802.11ad标准，802.11ah和802.11ax。此外，第五代蜂窝通信可能产生的测试挑战将远远超过LTE。

受更高吞吐量（除其他要求外）需求的驱动，目前建议使用毫米波和大规模多出多入技术（MIMO）。这些建议中的方法应该被采用，测试5G无线电将要求测试机构完全改造现有试验的基础设施，以支持更宽的信号带宽，更高的频率以及多天线端口。

结语

手机研发的复杂性和平均成本的降低，是造成无线IC测试日渐频繁的两大主要原因。工程师需要结合用户体验和对成本控制的要求，展开全面的测试工作。