无奈盘点那些数字示波器测试占空比的缺点

在进行占空比的测试时，我们最经常使用的工具就是数字示波器，它能够帮助工程师们精准的进行占空比脉冲测试。然而，再精准的仪器也有自己的缺陷，在高采样率的前提条件下，数字示波器在进行脉冲测试时也有一些让人倍感无奈的缺点，本文将会就这种测试方式的缺陷进行简要分析。

在利用数字示波器进行低占空比脉冲等间歇性的信号测试时，为了提高测试的精度和准确性，通常情况下工程师会选择使用示波器的最高采样率来采集波形数据。在高采样率的支持下，可以看到大部分波形细节，如图1所示。

图 1

图2

然而，如果在使用示波器进行测试的过程中想同时查看多个连续的低占空比脉冲，那么我们就必须提高采集的时间窗口。要让多个脉冲落在示波器提供的有限存储器内，很多时候必须通过降低采样率来达到。显而易见地，这种降低采样率的方法本身就会降低水平分辨率，使得时间测试精度大大下降。

当然了，我们也可以选择扩展存储器的长度，这样可以在不降低采样率的情况下提高采集时间窗口。但是，这种方法也有其自身的局限性。尽管现在的存储技术不断进步，高速采集存储器仍是一种昂贵的资源，而且很难判断多少存储容量才足够，而且即使拥有被认为很长的存储器长度，但可能仍不能捕获最后的、可能是最关键的事件。

上图中，图2是在长时间记录时以高分辨率捕获的多个低占空比脉冲，我们可以从图中看出，时间窗口扩展了10倍，这样也可以捕获更多的间歇性脉冲。其实现方式通常是提高采集数据的时间长度，并提高记录长度，同时保持采样率不变。这种采集方法的缺点非常多，首先，在进行占空比的测试过程中不仅对存储器和硬盘的要求提升了，其次这种采访方法还会极大的影响I/O传送速率，对用户的成本要求也将会有所提升。除此之外，由于示波器要处理更多的信息，因此前后两次采集之间的不活动时间或死区时间提高了，导致更新速率下降。