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现如今很多设计都开始采用可控硅来进行控制，随着应用的广泛，一些由于设计或者其他因素造成的错误总会发生在电路当中。可控硅击穿就是其中一种。本文将通过对一个案例进行描述，然后对案例中发生的击穿情况进行分析，并给出一些建议。
本例中，双向可控硅电路以BTA06为基础，负载连接电机。在使用了一段时间之后出现了容易被击穿的现象，此后电路持续保持导通状态，问题究竟出在哪里呢？R0和R4的作用是什么？
首先需要明确的一点是，220V的负载是完全没有问题的，即便是600V也在称受范围内，所以过压的情况应该并不存在。但是很有可能是过流，也或许选取6A感觉已经足够，但对于感性负载来说，千万千万要对负载的温度-阻抗特性进行细致、完整的测试。在使用这个可控硅驱动线圈时，线圈材料和绕数会产生不同，其室温状态和发热状态下阻值变化很大，比如说纯铜、铜包铝。
即使是同一材料也要特别注意，比如使用BTA06驱动一个线圈类的负载，室温状态下阻值是60R，电流220/60或者220*1.4/60都未超过6A，但负载运行一段时间后，阻值变成了了50R，此时电流明显超出承受范围。
采用这个设计投产之后，一半以上的产品出现了可控硅击穿的现象，此时就需要将6A改为BTA08，烧毁的现象才出现终止。除了设计上的注意，在管子的采购过程中也要特别注意，采购的渠道一定要来源正规，任何翻新和假货都会造成设计出现问题。
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