辐射发射测量方法－1Ω/150Ω直接耦合法

辐射发射测量方法－1Ω/150Ω直接耦合法

德国LANGER公司开发和生产的用于测量IC引脚传导发射的1欧姆/150欧姆组件，符合IEC61967-4规定的两种测试方法：1Ω测试法和150Ω测试法。1Ω测试法用来测试接地引脚上的总骚扰电流，150Ω测试法用来测试输出端口的骚扰电压。

• 测试示意图

• 测试连接图

• 探头技术探头参数

P602 0.1Ω高频电流表

P602 是0.1Ω探头，用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。它的内阻非常小，因此测量误差比P603型电流表要小。测量时，把它接到电源引脚（Vdd/Vss）或信号引脚上。

- 频率范围：9 kHz-3 GHz；

- 耦合电容的容量：8 µF

- 测量输出：50 Ω, SMB；

- 电压传递系数：-6dB

- 电流表分流器：0.1Ω

- 电流修正系数 R：-26 dBΩ

- 电感：1 nH

- 最大功率损耗：2.5 W

P622 有源0.1Ω高频电流表

P622 是带有集成前置放大器的0.1Ω探头，用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。 它的内阻非常小，因此测量误差比P603型电流表要小。测量时，把它接到电源引脚（Vdd/Vss）或信号引脚上。

- 频率范围：9 kHz-3 GHz；

- 耦合电容的容量：8 µF

- 电压传递系数：20dB

- 电流表

- 分流器：0.1Ω

- 1 dB 压缩点：120 dBµV

- IP3：134 dBµV

- 测量输出：50 Ω, SMB

- 噪声系数：3.7 dB

- 电流修正系数 R：0 dBΩ

- 电感：1 nH

- 电源电压：12Vdc

- 最大功率损耗：2.5 W

P603-1 1Ω高频电流表 SMA

P603-1探头属于1Ω探头用于直接测量集成电路引脚上的高频（RF）电流，主要用于接地引脚（Vss）和信号引脚的测量。1Ω 高频电流计拥有针脚触点，可以接触到并对集成电路的每个引脚进行测量。  

- 频率范围：0.2 kHz-3 GHz；

- 测量输出：50 Ω, SMB；

- 电压传递系数：-6dB

- 电流表分流器：1Ω

- 电流修正系数 R：-6 dBΩ

- 电感：1 nH

- 最大功率损耗：2.5 W  

P603 1Ω高频电流表

用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。测量时，把它接到电源引脚（Vdd/Vss）或信号引脚上。1Ω高频电流表拥有针脚触点，借此可以接触到并对单个的引脚并进行测量。

- 频率范围：9 kHz-3 GHz；

- 耦合电容的容量：8 µF

- 测量输出：50 Ω, SMB；

- 电压传递系数：-6dB

- 电流表分流器：1Ω

- 电流修正系数 R：-6 dBΩ

P623 有源1Ω高频电流表

P623 是带有集成前置放大器的1Ω探头，用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。测量时，把它接到电源引脚（Vdd/Vss）或信号引脚上。1Ω高频电流表拥有针脚触点，借此可以接触到并对单个的引脚并进行测量。

- 频率范围：9 kHz-3 GHz；

- 耦合电容的容量：8 µF

- 电压传递系数：20dB

- 电流表

- 分流器：1Ω

- 1 dB 压缩点：120 dBµV

- IP3：134 dBµV

- 测量输出：50 Ω, SMB

- 噪声系数：3.7 dB

- 电流修正系数 R：20 dBΩ

- 电感：1 nH

- 电源电压：12Vdc

- 最大功率损耗：2.5 W

P750 150Ω高频电压表

- 频率范围：150 kHz-3 GHz；

- 输入阻抗：150 Ω

- 测量输出：50 Ω, SMB；

- 电压传递系数：-15.2dB

- 最大直流输入电压：50V

- 最大射频输入电压：3.5V

辐射发射测量方法－磁场探头法

德国LANGER公司开发和生产的用于测量IC引脚的传导发射的磁场探头，符合IEC61967-6测试要求，磁场探头法是通过测试PCB板导线上的电流来评定集成电路的电磁发射。芯片引脚通过PCB板上的导线与电源或外围电路相连，因而它产生的射频电流可用一个靠近的磁场探头获取，由电磁感应定律，探头输出端的电压正比于导线上的射频电流。

• 测试示意图

• 测试连接图

• 探头技术参数

P1601 高频磁场探头

Probe 1601具有50欧姆输出，用于近场（H-场）测量IC产生的磁场；为了定位磁场电流在不同方向RF，磁场探测器是可以360°旋转。探头放置在IC上方3或10mm的高度。

探头通过频谱分析仪或接收机操作。

- 频率范围：0-1 GHz；

- 输出接口：N-型 (50 Ω)

- 磁场源大小：(40 x 22) mm

- 重量：760g

- 尺寸 (L x W x H)：(180 x 96 x 96) mm

P1602 高频磁场探头

P1602型高频磁场探头用于测量从一个集成电路耦合出的磁场，其频率在3GHz 以内。这些磁场在探头内的导体上感应出电压，相连的频谱分析仪会测量这些电压。

具有50欧姆输出；为了定位磁场电流在不同方向RF，磁场探测器是可以360°旋转。探头放置在IC上方3或10mm的高度。

探头通过频谱分析仪或接收机操作。

- 频率范围：0-3 GHz；

- 输出接口：N-型 (50 Ω)

- 磁场源大小：(30 x 22) mm

- 重量：745g

- 尺寸 (L x W x H)：(180 x 96 x 96) mm

P1702 高频电场探头

P1702型高频电场探头用于测量从一个集成电路发出的电场。这些电场会耦合到探头的电极上。由此产生的延迟电流会造成相连的频谱分析仪的输入端电压下降。相连的频谱分析仪会测量这些压降。

具有50欧姆输出，与一个测量电场的电极相连。探头放置在IC上方3或10mm的高度。

探头通过频谱分析仪或接收机操作。

- 频率范围：0-3 GHz；

- 输出接口：N-型 (50 Ω)

- 电场源大小：42 mm Ø