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案例研究:由 AI 驱动的故障分析和检测系统可更快发现问题

2022-02-23 17:04 来源:MEPAX 编辑:电源网

Instrumental 是一个生产优化平台,由前 Apple 工程师创建,用于实时、主动地识别装配线上出现的问题。这个平台可为工程师和生产团队提供完整的数据记录,支持他们迅速发现新问题、完成故障分析、与工厂团队进行精简沟通,以及改进生产工艺。Instrumental 能够帮助远程工程团队发现生产线上多个数据集之间的相关性(包括功能测试和视觉记录),从而找到故障背后的根本原因。

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借助 20 MP Blackfly S 摄像头,Instrumental 成像系统可以捕捉到检测小型电子微型组件所需的高精度细节,在这些组件中,即便是极微小的错误也可能会引发故障(在其他几个应用中)。

将 Spinnaker SDK 的独特功能和易于集成的特性与我们享有盛誉的 20 MP Blackfly S USB3 摄像头相结合,是 Instrumental 生产优化平台的理想选择。这个系统汇集了来自整个供应链的图像和功能测试数据,利用人工智能自动对潜在的根本原因进行评级,使客户能够加快解决问题的速度,迅速取得收益,同时提升质量。请继续阅读以了解详情,并与专家联系,获取有关 Instrumental 检测解决方案及 Teledyne FLIR 机器视觉摄像头的更多信息。

• Instrumental 检测平台如何实现自动缺陷检测

• 集根本原因分析和报告于一体的平台功能

• 安全的产品数据管理和本地协作工具的优势

• 为何 Instrumental 选择 Teledyne FLIR 的 20 MP Rolling Shutter CMOS

• Spinnaker SDK 的独特功能和易于集成的特性

• Teledyne FLIR 如何使 Instrumental 实现轻松的可自定设置

标签: AI 驱动 MEAPX

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