泰克先进半导体开放实验室：以深耕新质生产力为核心，重塑开放实验室的想象

自从1972年尼克松总统访华，并捐赠了一个带有泰克设备的卫星地面站之后，泰克便开启了与中国长达52年的合作。5月16日，泰克在北京举行泰克先进半导体开放实验室Version 2.0发布会，宣布实验室全面升级。作为全国首个企业级第三代半导体功率器件测试服务实验室，升级后的泰克实验室将继续践行“泰克在中国为中国”的战略，以深耕新质生产力为核心，深度聚焦多个行业应用，为解决设计、生产和使用第三代半导体功率器件的测试难题持续赋能。

用开放点燃未来想象

半导体材料发展至今经历了三次技术迭代，如今的第三代半导体以碳化硅、氮化镓为代表，可应用在更高阶的高压高频的功率元件领域。不同于第一代和第二代，第三代半导体国内的和国际巨头几乎处于同一起跑线，并且背靠中国庞大的应用市场，国内企业可以根据市场需求定义产品，灵活性更强，竞争力更强。在中国正蓬勃发展的第三代半导体市场中，泰克作为不可或缺的测试环节参与者，也在不断升级服务。

新升级的实验室更开放，不只提供测试服务，还提供技术服务与咨询。泰克广开实验室的大门，邀请中国企业与泰克资深应用工程师团队专家面对面探讨测试解决方案，诊断测试问题，共同制定更完善的方案。新升级的实验室更先进，为应对新技术应用场景，升级的设备有GaN器件开关测试和动态导通电阻测试、SiC功率器件的短路测试、雪崩测试，更全面的静态参数和电容参数测试系统，以及全新的面向第三代半导体功率器件的可靠性测试系统。

泰克科技中国区分销业务总经理宋磊表示，与本土企业合作，可以为客户提供更快、更灵活、更全面的本地化方案。泰克实验室里的很多设备都是完全按照中国客户需求，在中国设计并生产，且同本土合作伙伴共同打造的产品。还有为电商渠道开发专用的产品。在大学培养方面，泰克同样以开放合作的姿态积极地与高校合作，提供创新的工具与教学平台，支持未来工程师的学习和发展。泰克希望“把自己变成一家中国的跨国公司，变成一个本土化的公司，成为中国高科技产业发展过程中的一份子。”

目前测试测量仪器行业有两大变化，一个是高端化与软件化。随着技术的演进，终端产品的复杂度和性能不断提升，工程师需要的工具也要随之升级，我们可以发现原先500MHz的高端示波器已经成为工程师必备的测试设备，而且越来越多的工作需要流程化软件来处理，需要可配置的软件来定义仪器。宋磊表示，目前包括数据中心、人工智能、云计算等最火的IT技术，归根结底都离不开先进的芯片、万物互联的有线/无线技术以及高效的电源供应，泰克可以从工具层支持万物数字化。另一个是电气化。包括可再生能源发电、工业自动化、电动、新能源汽车等新型电气化革命，其技术水平已经远超过去，需要用到各种高速信号处理、第三代半导体、电池管理等先进技术，泰克针对电气化生态系统推动宽禁带技术创新。

在北京实验室开放的两年时间内，泰克共接待超过300家客户，测试过1000多种器件，覆盖国内绝大多数三代半导体功率器件生产厂家。实验室的研究方向广泛涵盖了半导体材料、器件设计与制造、封装与测试等领域。实验室的主要关注的研究课题包括新型半导体材料的开发、高效能源器件的设计、先进封装技术。

以新产品支持新质生产力发展

第三代半导体产业技术创新战略联盟副秘书长高伟博士，中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟副秘书长侯喜峰，国家新能源汽车创新中心功率测试平台负责人郭大铭从中国SiC/GaN功率器件市场、电子电器的智能化、能源动力的电气化和汽车设计的数字化等的角度分享了国内联盟组织对中国第三代半导体产业的看法和期待。泰克科技技术总监张欣以“泰克促进科研教育创新发展新质生产力要素”为题，分享了加快发展新质生产力的方式，泰克的产品可以应用于包括量子科技、新型计算、材料研究以及能源科技在内的四个方向。

张欣表示，新就是创新，质就是质量。产业链和数字经济是发展新质生产力的底座，需要高质量的研发和科研，泰克可以提供各类数据的分析、解读、调配的能力。而且泰克并不是单纯支持科学研究，而是同产业界达成良好的生态合作，在产学研范畴中，帮助实现高科技产业化的落地。泰克将致力于创新、人才、产业的新质生产力要素，扎根教育、服务科研、助力产业化发展。

泰克专家还为与会者现场展示和深入介绍了包含SPT-1000A功率器件静态参数测试系统、DPT-1000B功率器件动态测试平台和DPT-1000A双脉冲测试系统在内的多款明星产品，重塑第三代半导体时代的测试新体验。

随着科技创新的不断加速，新质生产力正成为推动经济社会发展的强大动力。泰克致力于为中国半导体行业搭建起一个产学研深度融合的交流合作平台，从技术、学术及商务交流的角度出发，促进中国电源、电力电子产业链上下游融合，不断培育和加快新质生产力的发展。

SPT-1000A 静态参数测试系统

SPT1000A静态参数测试系统可用于各类二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管等各类分立器件的静态参数测试。系统搭配了业界领先的源表（SMU）和精密LCR表。使得本系统可以在3kV和1000/2000A的条件下实现精确测量和参数分析，漏电流测试分辨率高达fA级，电压测试分辨率最高可达nV级，以及3000V高压下的寄生电容的精密测量。本系统不仅适用于传统硅基功率器件，也可用于新型功率半导体器件如碳化硅、氮化镓、氧化镓等的静态参数测试。SPT1000A在测试夹具设计上采用一站式设计，被测件插入夹具后，可以一次性完成高压、大电流，寄生电容相关测试，无需更换测试夹具和测试连接，简化操作步骤，提高测试效率。系统支持加温测试，外置选配热流仪可以进行高温低温。

DPT-1000A动态参数测试系统

DPT1000A功率器件动态参数测试系统，于2021年首度推出，旨在解决客户在功率器件动态特性表征中常见的疑难问题。泰克公司结合自身在时域波形测量领域的丰富经验，与国内系统集成商一道，共同定义并开发了这套面向新一代功率器件的动态参数测试系统。这套系统具备高测试带宽，低寄生参数，兼容性强，系统灵活方便升级的特点，系统推出后得到广大测试工程师的广泛认可。除了常规的开关参数和反向恢复测试外，DPT1000A还可以完成雪崩测试，短路测试，测试期间种类涵盖Si MOSFET，IGBT，PMOS，SiC，GaN等，系统具备极高的灵活性，适配多种测试标准。

HTXB-1000B动静态综合老化测试系统

DHTXB-1000A动静态综合老化测试系统针对第三代半导体功率器件，参考AQG-324标准，根据特有的器件特性和失效机理，在加速老化条件下，有针对性的施加特定压力条件（包括静态压力和动态压力），用以测试器件的漏流指标，以及其他特性参数（例如阈值电压，导通电阻等关键指标），用以表征器件的老化特性和工作寿命。可以让器件生产厂商和器件使用者在较短时间内了解功率器件的老化特性，以及长期使用条件下的性能变化，为器件实际应用过程中可能出现的故障进行预判和分析。

DHTOL-1000B 功率器件工况老化测试平台

HTOL测试方法的主要优势在于其能够模拟器件在实际工作环境下的老化过程。通过在高温条件下加速器件的退化过程，该方法能够在较短的时间内获得关于器件老化特性的宝贵数据。这些数据不仅对用户具有较高的说服力，而且对于产品的保修期限和维护计划的制定具有重要指导意义。此外，通过在特定拓扑结构的电源电路中进行硬开关测试，HTOL方法能够有效预测器件在特定工作条件下的预期寿命。这不仅为产品的可靠性评估提供了科学依据，同时也帮助设计者深入理解器件在预期寿命周期内的性能表现，从而在产品开发和优化过程中做出更加精准的决策。