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专为满足您的特定测试需求量身打造的系统:构建您的SG EVO以实现无与伦比的射频精度

2024-12-27 16:12 来源:MVG 编辑:电源网

MVG SG Evo是一款用于进行天线球面近场测试和OTA测试的多探头阵列测试系统,独特的设计得益于拱形环中的精密定位机制,可实现无限采样。

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SG EVO凭借其模块化设计,在多样化应用中脱颖而出。您可以根据设备测试(DUT)的具体需求进行定制,选择合适的尺寸、频段和定位器,以适应DUT的重量。

无论是关注电信、航空航天,还是其他高精度应用,SG EVO都能无缝适应,提供快速、精确的测量,覆盖广泛的频率范围。让您尽享为现代无线连接需求设计的系统的灵活性和高效性。

SG Evo

为了测试5G大规模MIMO BTS、卫星及地面终端天线等大型、重型天线,MVG设计出用于进行天线球面近场测试和OTA测试的多探头阵列测试SG Evo系统。SG Evo的拱形环采用了MVG无限采样专利技术。

MVG的无限采样专利技术通过对DUT定位器或探头阵列进行轻微的机械旋转来创造额外的虚拟探头。由于SG Evo系统在拱形环中整合了无限采样定位功能,无需在多重采样时倾斜被测设备,即使在测试重型被测设备时也避免了被测设备和方位角定位器的重力偏转。

此外,无限采样技术通过旋转加上探针阵列的额外电子扫描,引入了更多的数据收集点,形成了完整的测量球面,从而获得了精确的分析能力。因此,SG Evo系统能够以前所未有的速度给出精准的天线性能测试结果。

SG Evo的模块化设计还为其架构带来了灵活性:探头阵列拱形环和定位器模块的尺寸可以根据被测设备的典型尺寸和重量来确定,还可以根据被测频率 (400 MHz至50 GHz) 选择多套探头。凭借MVG无限采样专利技术和这些主要特性,SG Evo能够以快于传统测试方法10-100倍的速度进行精准测试和测量。

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