关于交流电阻在实际中与那些有关

最近遇见一问题，ACR过高。在本公司测试合格，出到客户端发现不良。绕是0.08的105股，测试频率是100K。现在的线径已经完全小于穿透深度，但是还是出现ACR不良，且数量不少。

ACR除了与频率（穿透深度）与关外，是否有磁场有关，比如产品通电后，绕圈产生磁场，磁场再次造成通电电子集肤，而导致ACR高？我们通常的计算没有考虑磁芯磁场的影响，这是否不正确？而且磁芯与线圈越近造成的影响越大？

对于这课不良品，一定是在我们测试完成后到客户使用这短时间发生的物理性的变化，造成相关特性变化，而影响到ACR？

大家有没有遇到此类问题的，一起讨论讨论。

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LV.7

2014-12-11 11:35

用4线法测的？接触电阻没问题吧？

DCR在范围内？

测试温度一样？

铜线直径有误差的，考虑了吗？

LV.2

2014-12-11 14:24

@deep_thought

用4线法测的？接触电阻没问题吧？DCR在范围内？测试温度一样？铜线直径有误差的，考虑了吗？

谢谢你的回答，不明白4线法则，还望赐教。现在是一天生产1000个，可能一个不良品。DCR没有问题，测试条件一样，其它都分析过。其它可测试参数都是合格的，就是ACR不良。

我的想法应该是磁场对ACR的有影响而导致通电的有效面积降低，需要从理论上的原因，然后再从实际生产上验证这个原因是真实的原因。

LV.7

2014-12-12 13:50

@30624110

谢谢你的回答，不明白4线法则，还望赐教。现在是一天生产1000个，可能一个不良品。DCR没有问题，测试条件一样，其它都分析过。其它可测试参数都是合格的，就是ACR不良。我的想法应该是磁场对ACR的有影响而导致通电的有效面积降低，需要从理论上的原因，然后再从实际生产上验证这个原因是真实的原因。

4线法，就是2条是通过大电流的供电回路，另外2条是取样线。排除接触电阻的影响。这样较准。

关于磁场的影响。是还有一个临近效应。磁场把电子拉向一个方向。所以要尽量减少漏磁。

LV.7

2014-12-12 13:53

@30624110

还有你说的千分之一不良。那你们的数据差多少？只是仪器的误差？还是设计余量不够？CPK数据分布满足3 SIGMA?

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