取样与反馈控制一问

高压电路的输出取样是个难题,用传统的电阻分压取样,取样信号直接反馈回控制芯片,这样最简单,但因为输出与控制部分不隔离,难免带来一些干扰问题,干扰严重时控制芯片可能无法正常工作.
如果采用隔离,现有器件,包括光耦,霍尔传感器等都有延时和频带宽度问题,对取样信号都会产生一定的延时和失真,导致输出波形不够理想.
还有就是频率补偿问题,对于闭环系统,不做频率补偿的话,系统会进入不稳定状态.但是根据电路拓扑的零极点进行补偿,理论计算的值又常常不能达到实际效果,需要反复的调整.