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首论电容器件的应用,与各位工程师共勉

今天开始,和大家一起在电源网探讨,共同提高!本人资历尚浅,一些理解不到位的地方请各位高手赐教.
从电容开始,以聚酯膜电容开始,以后会是金属化电容,贴片电容...然后磁性器件,二极管,三极管等...
CL11电容一般的失效模式表现为短路,主要是芯子内部焊接点发生打火击穿.导致这种情况的原因主要有以下几个方面:引线顶端或者焊接点存在毛刺;芯子内部存在受潮现象.
对于引线顶端或者焊接点存在的毛刺,会损伤薄膜介质,损伤点位置的电流在电容工作的时候会逐渐加大,从而会急剧发热导致击穿短路.
如果芯子内部存在潮气,会产生电离现象,使等效串联电阻增大,电容的漏电流会缓慢的加大,芯子内部最内层薄膜开始融化,最终失去电介质的特性,介电常数发生变化,电容从容性器件开始向阻性器件发展,最终导致失效,这种失效模式一般没有明显的击穿点,薄膜脆化.
从外观上看,分有明显包封层变黑和没有明显变化两种,主要原因主要是看电容在濒临失效的情况下工作的时间.
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unique
LV.9
2
2009-05-26 21:07
支持!
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xuguojie
LV.3
3
2009-05-26 21:14
@unique
支持!
期望大家可以提一下自己的问题,但愿我可以解答.同时更期望各位高手给予批评和指正.
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flute
LV.8
4
2009-05-26 21:48
FMEA ,good!
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flute
LV.8
5
2009-05-26 21:51
我来补充一下:金属引脚与电容本体-薄膜如存在"weakness contact",这将会在生产当中的性能测试会表现出来,,,,,
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snowmo
LV.6
6
2009-05-27 08:00
@flute
我来补充一下:金属引脚与电容本体-薄膜如存在"weaknesscontact",这将会在生产当中的性能测试会表现出来,,,,,
强顶
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xuguojie
LV.3
7
2009-05-27 10:32
@flute
我来补充一下:金属引脚与电容本体-薄膜如存在"weaknesscontact",这将会在生产当中的性能测试会表现出来,,,,,
个人认为这个毛刺主要还是在于厂家的控制,就是及时的更换刀片.进行性能检测,的确有可能早期发现发现,一般式进行高温耐压试验,但是高温耐压试验有时候也是无能为力的.
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2009-05-29 16:28
@xuguojie
个人认为这个毛刺主要还是在于厂家的控制,就是及时的更换刀片.进行性能检测,的确有可能早期发现发现,一般式进行高温耐压试验,但是高温耐压试验有时候也是无能为力的.
斗胆问问,再论啥时候开示.
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xuguojie
LV.3
9
2009-05-30 08:23
@笨笨也混混
斗胆问问,再论啥时候开示.
在适当的时候吧  O(∩_∩)O~
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2009-05-30 08:42
CL11电容一般的失效模式表现为短路,主要是芯子内部焊接点发生打火击穿.导致这种情况的原因主要有以下几个方面:引线顶端或者焊接点存在毛刺;芯子内部存在受潮现象.
这种现象高压测试不能过关吧.
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xuguojie
LV.3
11
2009-05-31 20:05
@镇流器粉丝
CL11电容一般的失效模式表现为短路,主要是芯子内部焊接点发生打火击穿.导致这种情况的原因主要有以下几个方面:引线顶端或者焊接点存在毛刺;芯子内部存在受潮现象.这种现象高压测试不能过关吧.
会表现为高压高温漏电流偏大,但是控制起来比较麻烦,因为可能这个漏电流比合格品的漏电流大不了几个数量级,甚至在同一数量级.
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