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BQ系列的EDV补偿与 ps系列的查表法修正 孰优孰劣?

各位大虾,兄弟初到此论坛,请多指教.本本电池研究也有段时间,可是关于补偿的问题还存疑惑.bq系列需要做一些试验,然后通过他们的一个数学软件计算出相关的各个参数,用相应软体2200或者2300写入eeprom. 而ps 则使用查表法.自我感觉,计算bq所需要的参数 所要去做的实验要比 建立一个查询表相对容易,做的实验相对较少.而且采用查询表的方法,查询表本身会比较大,会占用较大的memory.是否bq的edv属于一个专利,其他公司不可采用,还是其他公司很没有完全掌握这种方法?
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风之语
LV.2
2
2005-12-13 17:18
好贴!
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shundetkd
LV.5
3
2005-12-14 10:27
BQ的补偿并没有针对温度、放电速率等进行对应的补偿,得出的结果也是比较单一化的;ps的有lab形式(查表)去确定温度对电池驻留容量的影响,然后在计算时候再补偿回去.
bq的是简单快捷一些(容易得到参数),ps的参数调整更值得信赖(但是参数要做更多的试验得到)
bq的edv算法是比较粗略的,现在对电池要求越来越高,越来越显得力不从心的了.
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馒头帮
LV.4
4
2005-12-14 12:44
@shundetkd
BQ的补偿并没有针对温度、放电速率等进行对应的补偿,得出的结果也是比较单一化的;ps的有lab形式(查表)去确定温度对电池驻留容量的影响,然后在计算时候再补偿回去.bq的是简单快捷一些(容易得到参数),ps的参数调整更值得信赖(但是参数要做更多的试验得到)bq的edv算法是比较粗略的,现在对电池要求越来越高,越来越显得力不从心的了.
强贴!

使用查表法,虽然需要进行一些复杂的试验,但是却更能够经得住信赖,能取得更高的精度.当然,如果table表内如果能将电芯内阻也作为参数会更加精确,只不过其测试过程会更加繁杂.table表一旦建立是固定的,但是电芯会不断地老化,所以还需要有相应的参数来拟合点芯的老化趋势,当然这也必须要去做更多的试验.

shundetkd , 俺的名字怎么样?MicroFly.
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shundetkd
LV.5
5
2005-12-14 17:06
@馒头帮
强贴!使用查表法,虽然需要进行一些复杂的试验,但是却更能够经得住信赖,能取得更高的精度.当然,如果table表内如果能将电芯内阻也作为参数会更加精确,只不过其测试过程会更加繁杂.table表一旦建立是固定的,但是电芯会不断地老化,所以还需要有相应的参数来拟合点芯的老化趋势,当然这也必须要去做更多的试验.shundetkd,俺的名字怎么样?MicroFly.
尼小子马甲倒是挺多的.........
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nenbol
LV.2
6
2005-12-22 23:42
@shundetkd
BQ的补偿并没有针对温度、放电速率等进行对应的补偿,得出的结果也是比较单一化的;ps的有lab形式(查表)去确定温度对电池驻留容量的影响,然后在计算时候再补偿回去.bq的是简单快捷一些(容易得到参数),ps的参数调整更值得信赖(但是参数要做更多的试验得到)bq的edv算法是比较粗略的,现在对电池要求越来越高,越来越显得力不从心的了.
bq的补偿是有对温度和放电率进行补偿的,不同的温度和放电率所采用的edv值是不一样的.
ps的方法让人更容易理解.
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shundetkd
LV.5
7
2005-12-23 09:43
@nenbol
bq的补偿是有对温度和放电率进行补偿的,不同的温度和放电率所采用的edv值是不一样的.ps的方法让人更容易理解.
我指的是“对应”的温度、放电速率补偿:
BQ的EDV补偿,用2060举例,其主要的参数是C0、T0,R0等,其中T0是温度补偿.这些补偿数值是用TI的算法根据几个典型温度下做不同速率放电的循环得出的.
2060的EDV电压值是根据R、T、C这些补偿参数计算出来的,在实际使用过程中并不能随着实际的情况进行自我修正,所以在多次循环的电池(电芯的离散性)、低温使用(电介质流动性变差)下,误差那么EDV的数值并不能再和容量匹配,在客户笔记本上面的直接表现就是容量的跳变.
在208X里面,Ti已经意识到这个问题了,所以EDV的设定是基于基准值(EEPROM里面有)上进行补偿,而不是直接由一组参数进行调整.名字就改成了CEDV.
人所共知的BQ的EDV补偿还会带来FCC的变化,假如EDV补偿数值不是很正确,那么带来的后果还有FCC与实际充放容量的不真实性.

PS系列的查表,可以比较好地解决了低温时候驻留容量的补偿,可以比较好地对应还原电芯真值.但是501其他地方就有点.....不好用了
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nenbol
LV.2
8
2005-12-23 14:40
@shundetkd
我指的是“对应”的温度、放电速率补偿:BQ的EDV补偿,用2060举例,其主要的参数是C0、T0,R0等,其中T0是温度补偿.这些补偿数值是用TI的算法根据几个典型温度下做不同速率放电的循环得出的.2060的EDV电压值是根据R、T、C这些补偿参数计算出来的,在实际使用过程中并不能随着实际的情况进行自我修正,所以在多次循环的电池(电芯的离散性)、低温使用(电介质流动性变差)下,误差那么EDV的数值并不能再和容量匹配,在客户笔记本上面的直接表现就是容量的跳变.在208X里面,Ti已经意识到这个问题了,所以EDV的设定是基于基准值(EEPROM里面有)上进行补偿,而不是直接由一组参数进行调整.名字就改成了CEDV.人所共知的BQ的EDV补偿还会带来FCC的变化,假如EDV补偿数值不是很正确,那么带来的后果还有FCC与实际充放容量的不真实性.PS系列的查表,可以比较好地解决了低温时候驻留容量的补偿,可以比较好地对应还原电芯真值.但是501其他地方就有点.....不好用了
bq是通过几组数据来描绘一个函数关系,通过这个函数来给出不同的条件下不同edv值,它是个动态的变化,这要依据你所使用的电芯特性.
电池的容量跟使用的温度和放电率是有非常大的关系,因此fcc的
跳变(连续两次不超过3%)就是正确的,在不同的条件下不可能做到fcc一层不变的.
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shundetkd
LV.5
9
2005-12-23 14:59
@nenbol
bq是通过几组数据来描绘一个函数关系,通过这个函数来给出不同的条件下不同edv值,它是个动态的变化,这要依据你所使用的电芯特性.电池的容量跟使用的温度和放电率是有非常大的关系,因此fcc的跳变(连续两次不超过3%)就是正确的,在不同的条件下不可能做到fcc一层不变的.
BQ的EDV函数方式只能在新电池上取得较为满意的效果,当电池循环次数增多,电芯特性改变,还是用同样的参数,合理否?
BQ的EDV目的是为了修正在电池在最后放电时候电压平台的陡降带来的影响,人为地预算一个剩余容量补偿回去而已.
如果采用了EDV补偿,FCC的数值依然跳动,EDV的补偿又有何用处?而跳变带来的影响一个是用户的迷惑,另外一个后果是笔记本里面的EC是靠读取标志位进行判断电池是否放空,EDV补偿不妥,电压远未达到放空电压点FCC就跳变导致产生了FullDischarge,笔记本会关机的.这样直接影响了电池的外在寿命.
     还有,常说的允许3%的变动,是指的是实际充放容量的改变,而不是BQ里面的FCC改变(FCC的改变限制是512mah).FCC当然允许变动,但是跳变则不是客户能接受的了.
    现在笔记本整体技术导致以后电池基本上是3串了,但是功率和负载变动却是上升了,将来电池的放电电流达到10A/us,那么gas gauge的电流检测和EDV补偿将会要求更高了.
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nenbol
LV.2
10
2005-12-23 15:28
@shundetkd
BQ的EDV函数方式只能在新电池上取得较为满意的效果,当电池循环次数增多,电芯特性改变,还是用同样的参数,合理否?BQ的EDV目的是为了修正在电池在最后放电时候电压平台的陡降带来的影响,人为地预算一个剩余容量补偿回去而已.如果采用了EDV补偿,FCC的数值依然跳动,EDV的补偿又有何用处?而跳变带来的影响一个是用户的迷惑,另外一个后果是笔记本里面的EC是靠读取标志位进行判断电池是否放空,EDV补偿不妥,电压远未达到放空电压点FCC就跳变导致产生了FullDischarge,笔记本会关机的.这样直接影响了电池的外在寿命.    还有,常说的允许3%的变动,是指的是实际充放容量的改变,而不是BQ里面的FCC改变(FCC的改变限制是512mah).FCC当然允许变动,但是跳变则不是客户能接受的了.    现在笔记本整体技术导致以后电池基本上是3串了,但是功率和负载变动却是上升了,将来电池的放电电流达到10A/us,那么gasgauge的电流检测和EDV补偿将会要求更高了.
你是希望fcc真实反映这次循环的电池容量,还是希望fcc一直保持一个没有跳便的值.
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shundetkd
LV.5
11
2005-12-23 15:34
@nenbol
你是希望fcc真实反映这次循环的电池容量,还是希望fcc一直保持一个没有跳便的值.
数据要体现实际值.
如果跳变,证明FCC没有反映实际的情况.
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qiuyy
LV.6
12
2005-12-25 15:03
@shundetkd
数据要体现实际值.如果跳变,证明FCC没有反映实际的情况.
TI连基本的芯片应用方法算法资料都封锁,客户怎么应用呀?我受不了了.
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marten
LV.3
13
2006-02-06 15:48
兄弟,该贴发表的好!我也是因为为这个问题而困扰.PS501我只是大概搞了一下这个方案,bq2085我就比较仔细的研究过.对电池的高低温以及大小电流放电做实验的时间不下于一个月,最终得到的结果还是不满意.在常温下和高温下放电补偿差不多都可以到位,但在低温下测试就不行了.补偿总是不够,把TI原厂的人请过来,也搞不定,没办法.所以我觉得还是查边相对来说要好点.
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