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关于匝数和磁芯损耗、磁芯饱和的关系的问题

各位高手,小弟刚开始接触变压器设计,感觉千头万绪,到现在还没有入门,有很多基础性的知识需要高手予以指导。

在赵修科老师的《实用电源技术手册磁性元器件分册》的8.3.1节中提到了一句“如果测量得到的电感值太大,不要减少匝数,这样可能会使损耗变大,磁芯饱和”。

减少线圈匝数,铜损一定减少,那么这里说的损耗就应该是磁损了,也就是说,减少匝数,就会使电感工作在更高的H上(也就是说,相同的电流下能够产生更强的磁场),这是什么道理?

根据安培环路定理来看,HL = sigema (I),H变高,I如何变大?


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LV.1
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2011-06-14 17:23
我在那个帖子回你了。。
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2011-06-14 18:07
H是磁感应强度,是因为有电流通过所以才会有磁场。所以是I影响H,由NI推出HL。。。。
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2011-06-14 23:02
@
我在那个帖子回你了。。
看到了,很简练,很精辟!谢谢!!!
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2011-06-14 23:16
@dreamer662006
H是磁感应强度,是因为有电流通过所以才会有磁场。所以是I影响H,由NI推出HL。。。。
是的,dreamer你说的我很同意。我的意思是从Ni反推出H的变化,而我不明白的是为什么把匝数和H联系到一起。不过现在明白了,感谢jimmy同学。
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2011-06-15 08:55
@knifeman1980
是的,dreamer你说的我很同意。我的意思是从Ni反推出H的变化,而我不明白的是为什么把匝数和H联系到一起。不过现在明白了,感谢jimmy同学。
匝数多,NI就多啊,造成的H就会高,可能饱和。
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