最近常看到有人说，欧盟CFL规范2013 stage5 将CFL灯具的开关次数大幅提高了3倍，从2009年的1万次到2013年的3万次。一旦CFL灯具的开关次数达到规定的数字，其灯丝就会变黑，这灯具就不能用了。提高灯丝开关次数寿命的方法是每次打开开关前先预热灯丝，但这方法只有采用基于IC的驱动方案才能实现，现有的基于分立元件的驱动方案是做不到这点的。
似乎到了2013年，做出口的等非要用芯片方案不可，但坛子里也看到的分立器件能做到的开关寿命大于20000次的。看了欧盟stage 5性能要求，主要有以下方面，1、合格率提升；（6000小时失效从50%提升到70%）2、光衰要求增加；3、开关寿命延长；（增到大于小时寿命的次数或者3w次）4、启动时间缩短；5、早期失效减少；6、功率因数提高
就目前的分立方案而言，基本都是即时启动，所以启动时间不成问题；新规范对开关寿命的要求也只是小时寿命次数（大于6000次）而不是3w次；功率因数小功率的做下ppfc应该也没问题。
那 有必要用芯片方案么？ 镇流器用芯片的多么，做这方面芯片前景怎样？各位大大多多指教
