EMI滤波的共模电感
yon009兄分析的在理啊,谢谢支持。主要是我在调试时对两个供应商的μ值都为10K磁芯在使用时有些疑惑。一个是EE13电感,电感量为30mh;另外一个是EE16电感,电感量为45mh;在实际测EMI时,使用30mh的共模电感时,测试有1个db的余量,使用两个30mh共模电感串联(即电感量有60mh)测试有6个db的余量;使用45mh的共模电感,测试是超了7个db。所以我在考虑是哪里有问题,如果单单是电感量的话45mh应该不会超出这么多的啊。是不是还和“匝数、磁芯材料”有一定的关系。还望多多指导!
可以这样理解,磁芯不一样,在各个频率段的电感量不一样,抑制效果就会有差别。此外,电感的分布参数肯定也不一样(你的连尺寸都不一样),所以应该是不会一样的。
其实看到现在。我有一点点的猜测,就当是开拓下思路:
所用磁材的形状、磁芯材料的选择、电感量、绕线方式、电路PCB的布局。现在就说说前面的四个因素。
磁材的形状:不同的形状,肯定对EMI滤波效果有着明显的影响。我不认为这个形状只是出于美学考虑。更多的分析可能就是磁学方面的了。
磁材选择:不同的材料,导致明显的初始磁导率、功耗等因素。这些相差是很大的。
匝数及绕线方式:不同的初始磁导率,在相同的电感量的情况下,匝数变化有时会很大。再加上绕线方式造成的分布电容。线圈本身的电阻。这样下来,情况就有些复杂了。
我认为:起初,就是对磁材形状的选择(需要经验或磁学)。接下来就是对材料的选择。这两个因素定下来了,就只能改变电感量及绕线方式了。
对于这做的三次不同电感量的对比,粗略可以得出以下猜测:
1、一个30mH和两个30mH电感串联后,测试出有很大的余量差,这个可以说明:电感量的增加,对增大余量是有影响的。
2、两个30mH电感串联结果与一个45mH电感测试结果,余量较小,这个可以说明:匝数的减小,对于增大余量是有影响的(最有可能的就是绕线造成的分布电容)。为进一步验证其正确性,最好将45mH的电感时增加到60mH以进行对比。
3、一个30mH与一个45mH产生的测试余量对比,可以说明:在匝数与电感量两个对EMI影响的因素中,电感略占主导。(为进一步的验证,可将45mH电感量变为30mH,磁芯还用EE16)
以上猜测仅供开拓思路,还需要进步的验证。
随风兄说的前两个条件对于同一类(EB、LED DRIVER)且同功率的产品,一般基本是固定下来了~这样主要的我们调试中常用的办法也就是只有改变共模的感量了~ ~~不知随风兄一般调节EMI时都是怎么调整共模的呢?
学习哈!
建议专门开一贴来讲讲啊!