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主办方好，本人申请试用； 试用原因：1.在设计某产品的换向电路中因MOSFET耐压问题，导致控制板合格率不高，欲采用耐压高的SIC器件重新设计 ； 试用规划：1.采用SIC的DEMO板测试特定负载下板子的SIC器件的工作状态，包括开关速度、热耗及稳定性。2.对比SIC的DEMO板和MOSFET电路的试验数据；3.汇总试验结果书写实验报告。 本人工作单位：北京华摄半导体科技有限公司