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Q1. 何谓“老化”？A1. 老化是指EIA Class II电容器随着时间推移电容量会下降。这对于用作电介质材料的所有强电介质来说是不可避免的自然现象。老化的过程是可逆的，电介质的晶体结构是随温度和时间的变化而发生变化。老化通常以指数形式的容値衰减率来描述。用对数来表示老化的变化率，因此容値的减小在前10个小时时是非常大的。[图片]图1 :电容老化特性注：介电損耗因子（正切）也会老化，下降速率是电容値的几倍。同时，EIA Class III和IV也具有老化特性。业界的老化定义可参照EIA-521和IEC-384-9中关于老化的“官方”定义。Q2. Class I电容器和Class II电容器之间有什么不同？A2. 温度补偿用电容（EIA I类）和高介电常数电容（EIA II类）电容的差异。温度补偿相对介电常数为10〜100，高介电常数的类型是使用具有1000至10000的相对介电常数的材料，材料系是不同的。Class I 电容器1 (C0G、CH)的温度特性是稳定的，它基本不随温度，电压的变化，时间的推移而发生变化，CH和C0G电容的温度依赖性小，它的容值变化率是±30PPM/℃。因此，它是适用于要求温度和电压稳定的电路应用。Class II 电容器2 (X5R，X7R、Y5V)的特性对于温度、电圧、时间的变化是比较大的，与Ⅰ类相比，电容的温度变化较大但它可以获得高容值的电容，用于整流、傍路等用途。 此外，采用钛酸钡为介质主材制造的电容器（Class II、III和IV）为强电介质体，因此容易“老化”，在未加热或充未电状态下放置,随着时间的推移电容器的容値会下降。Class I电容器不是强电介质体，因此不会老化。Q3. 为什么钛酸钡电容器会老化以及如何老化？在居里点以下温度，无负载放置。随着时间的推移内部分子结构会变化，并由此产生电偶极子的有序排列。造成分子的电荷保持力减弱的结构。电容值将变小3。Q4. 什么是抗老化？A4. 抗老化是还原老化现象的热处理。简单地说，它是恢復重新老化的过程，但并不阻止元件的老化。将电容器加热到高于其居里温度会使晶体结构恢复到其最佳的无序排列，从而实现最大电容量。TDK建议采用150℃/1小时加热进行抗老化。注：为了加热后的容値测量、记录好最后的加热时间TOLH(Time Of Last Heat)是非常重要的。Q5. “老化”是否只是TDK的特有现象？A5. 答案是否定的。MLCC的所有制造商生产的Class II、III和IV陶瓷电容都会有“老化”现象。由于老化视结构而定，因此老化速率因制造商而异。Q6. 电容器制造商如何针对老化进行补偿？A6. 电容器的测试基准已在IEC-384-9被定义。它被定义为:在 最终热处理后1000小时的经时性变化后的电容值4。我们在测试工序中考虑到老化速度的影响，使1000小时后的电容值在允许的公差范围内来进行选别。[图片]图3 :Class II材料的排序限制示例，K允许偏差注：随着时间的推移,由于老化使电容值降低。最后加热后不到1000小时的有可能超过容量公差的上限，超过1000小时的有可能低于容量公差的下限。Q7. 电容器用户应如何针对老化进行补偿？A7. 电容器用户应期望Class II、III和IV电容器处在电容允许偏差范围内, 从最后加热开始需要经过 TOLH中的6周（1000小时）的放置，在焊接，粘接剂固化，温度上升的其他工序直后，是电容去老化的过程，有可能电容值不落在容差范围内。您可能需要考虑到电容器的老化因素，拓宽在电路测试中电容的容差范围设置。