高频功率开关管的失效讨论

Vp-Vp是杀手
这个问题很复杂,分很多场合,就大功率电源说说我的体会,很多人不以为然,尽管SOA进行了精心设计,其它方面也做得很优秀,但功率管还是时不时的失效.再看看它的EMI就做得不那么完善了,所有的控制IC其内部电平均为5V,是想多么脆弱,有些朋友自己搭电路避开5V电平.所以我认为EMI(VP-VP)是存在直通场合的主要杀手,当然还有一些其它问题是管子失效.

有本书,失效机理有好几十条.
半导体器件失效分析,邓永效著.宇航出版社

最近电子工业出版社出版了一套可靠性方面的书,叫做“电子元器件质量与可靠性技术丛书”;一共5本,分别为:
《可靠性物理》--分析电子元器件的失效物理、失效机理
《可靠性工程数学》--可靠性分析的数学基础,作定量评价需要学习理论
《可靠性试验》--探讨各种试验的设计方法,目的等,对你们应该很有借鉴
《统计过程控制与评价》--过程控制方面的内容
《质量与可靠性管理》--质量管理方面的内容
我感觉上面的这几本对开展可靠性工作有一些指导作用,可以先研究一下“管理、试验”的技术,然后进一步对过程控制和可靠性物理进行学习,“工程数学”那部分可以一边学习其它技术,一边研究,因为这是基础的东西,最好能掌握.