求助:小环形电感在生产过程中漆包线出现大量破皮不良.
因磁环小,客户又要求漆包线吃锡位高于铁芯,在漆包线最后一圈内侧位置有大量破皮现象,不知各位DX有何改善方案,谢谢.
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@aahui99
最后一匝先不繞,留適當線長,鍍錫后再把最后一匝繞上,愚人之見,包涵!
支持aahui99第11帖的看法
我們是採用線繞完退一圈的做法
三層絕緣線主要有兩種類型
一種是最外層比較厚可以用刀片直接脫皮
但有致命缺點,圈數多時最後幾圈會拉破皮
主要原因是因為最外層的鐵弗龍層太厚
延展性不夠,員工勾線力道過大時,
最後幾圈在重複磨損下,產生鐵弗龍裂開
一種是可直焊性的但無法用刀片直接脫皮
採購單價比較便宜將近35%,且不會有鐵弗龍裂開的問題
但在作業上工時會比較重,須採二次焊錫,
且安全性有待爭議(因為進出線的位置被二次破壞)
第一次約在2.5秒到4秒(要看線徑採用不同的錫爐溫度來做破壞)
破壞絕緣層後再用脫漆劑做二次破壞
第二次銲錫做吃錫表面(時間不可過長,只做表面處理,)
目前我們公司兩種都有用
第一種用在變壓器上(藍菱的,中頂的)
第二種用在線圈上(益瑞的,FURUKAWA,TOTOKU)
我們是採用線繞完退一圈的做法
三層絕緣線主要有兩種類型
一種是最外層比較厚可以用刀片直接脫皮
但有致命缺點,圈數多時最後幾圈會拉破皮
主要原因是因為最外層的鐵弗龍層太厚
延展性不夠,員工勾線力道過大時,
最後幾圈在重複磨損下,產生鐵弗龍裂開
一種是可直焊性的但無法用刀片直接脫皮
採購單價比較便宜將近35%,且不會有鐵弗龍裂開的問題
但在作業上工時會比較重,須採二次焊錫,
且安全性有待爭議(因為進出線的位置被二次破壞)
第一次約在2.5秒到4秒(要看線徑採用不同的錫爐溫度來做破壞)
破壞絕緣層後再用脫漆劑做二次破壞
第二次銲錫做吃錫表面(時間不可過長,只做表面處理,)
目前我們公司兩種都有用
第一種用在變壓器上(藍菱的,中頂的)
第二種用在線圈上(益瑞的,FURUKAWA,TOTOKU)
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@dgshk
外发给我家做吧!我们专业做电感线圈的!这类问题天天都会遇到!制程工艺有讲究!
我很高兴认识你!我们公司也是专业做电感的,而我是新加入的,希望你能多多指教!
今天我遇到一个问题,对你而言,肯定是很简单的,可对我而言,却觉得很难,特请教!
我有一个环形CORE,四线(40#)并绕(密绕),装在一个BOBBIN上.各绕组的DCR分别是0.25Ω最大;L值分别是5.0μH最小,测试规格1.0MHZ,0.1V.不良品中,测DCR时七个产品中,每个产品分别有一个绕组的DCR测不出来,刚开始我怀疑是断线,而拆开产品看,又没有断线.而L值又可以测出来,能测DCR的绕组L值都差不多,不能测DCR的绕组L值比较低.我想DCR测不出来,应该是断线,既然断线了,L值也应该测不出来,可是现在L值却可以测出来,只是数值差一点.请教,这是什么原因造成的?该怎样解决这样的问题?
还有一个疑点是:焊点处没有断线,环形CORE上绕线,四线并绕断线的概率也应该很小,对吗
今天我遇到一个问题,对你而言,肯定是很简单的,可对我而言,却觉得很难,特请教!
我有一个环形CORE,四线(40#)并绕(密绕),装在一个BOBBIN上.各绕组的DCR分别是0.25Ω最大;L值分别是5.0μH最小,测试规格1.0MHZ,0.1V.不良品中,测DCR时七个产品中,每个产品分别有一个绕组的DCR测不出来,刚开始我怀疑是断线,而拆开产品看,又没有断线.而L值又可以测出来,能测DCR的绕组L值都差不多,不能测DCR的绕组L值比较低.我想DCR测不出来,应该是断线,既然断线了,L值也应该测不出来,可是现在L值却可以测出来,只是数值差一点.请教,这是什么原因造成的?该怎样解决这样的问题?
还有一个疑点是:焊点处没有断线,环形CORE上绕线,四线并绕断线的概率也应该很小,对吗
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@dgshk
外发给我家做吧!我们专业做电感线圈的!这类问题天天都会遇到!制程工艺有讲究!
很高兴认识你!我们公司也是专业生产电感的.不过我是新入门的,希望你多多指教!
今天我遇到一个问题,对你而言,肯定是很简单的,可对我而言,却觉得很难,特请教!
我有一个环形CORE,四线(40#)并绕(密绕),装在一个BOBBIN上.各绕组的DCR分别是0.25Ω最大;L值分别是5.0μH最小,测试规格1.0MHZ,0.1V.不良品中,测DCR时七个产品中,每个产品分别有一个绕组的DCR测不出来,刚开始我怀疑是断线,而拆开产品看,又没有断线.而L值又可以测出来,能测DCR的绕组L值都差不多,不能测DCR的绕组L值比较低.我想DCR测不出来,应该是断线,既然断线了,L值也应该测不出来,可是现在L值却可以测出来,只是数值差一点.请教这是什么原因造成的?该怎样解决这样的问题?
还有一个疑点是:焊点处没有断线,环形CORE上绕线,四线并绕断线的概率也应该很小,对吗
今天我遇到一个问题,对你而言,肯定是很简单的,可对我而言,却觉得很难,特请教!
我有一个环形CORE,四线(40#)并绕(密绕),装在一个BOBBIN上.各绕组的DCR分别是0.25Ω最大;L值分别是5.0μH最小,测试规格1.0MHZ,0.1V.不良品中,测DCR时七个产品中,每个产品分别有一个绕组的DCR测不出来,刚开始我怀疑是断线,而拆开产品看,又没有断线.而L值又可以测出来,能测DCR的绕组L值都差不多,不能测DCR的绕组L值比较低.我想DCR测不出来,应该是断线,既然断线了,L值也应该测不出来,可是现在L值却可以测出来,只是数值差一点.请教这是什么原因造成的?该怎样解决这样的问题?
还有一个疑点是:焊点处没有断线,环形CORE上绕线,四线并绕断线的概率也应该很小,对吗
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@奇异果
很高兴认识你!我们公司也是专业生产电感的.不过我是新入门的,希望你多多指教!今天我遇到一个问题,对你而言,肯定是很简单的,可对我而言,却觉得很难,特请教!我有一个环形CORE,四线(40#)并绕(密绕),装在一个BOBBIN上.各绕组的DCR分别是0.25Ω最大;L值分别是5.0μH最小,测试规格1.0MHZ,0.1V.不良品中,测DCR时七个产品中,每个产品分别有一个绕组的DCR测不出来,刚开始我怀疑是断线,而拆开产品看,又没有断线.而L值又可以测出来,能测DCR的绕组L值都差不多,不能测DCR的绕组L值比较低.我想DCR测不出来,应该是断线,既然断线了,L值也应该测不出来,可是现在L值却可以测出来,只是数值差一点.请教这是什么原因造成的?该怎样解决这样的问题?还有一个疑点是:焊点处没有断线,环形CORE上绕线,四线并绕断线的概率也应该很小,对吗
这种问题还真没见过.DCR为无穷大,而L还能测试出来,只是测试值比较小?能看看你的不良品的具体测试值吗?
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@奇异果
很高兴认识你!我们公司也是专业生产电感的.不过我是新入门的,希望你多多指教!今天我遇到一个问题,对你而言,肯定是很简单的,可对我而言,却觉得很难,特请教!我有一个环形CORE,四线(40#)并绕(密绕),装在一个BOBBIN上.各绕组的DCR分别是0.25Ω最大;L值分别是5.0μH最小,测试规格1.0MHZ,0.1V.不良品中,测DCR时七个产品中,每个产品分别有一个绕组的DCR测不出来,刚开始我怀疑是断线,而拆开产品看,又没有断线.而L值又可以测出来,能测DCR的绕组L值都差不多,不能测DCR的绕组L值比较低.我想DCR测不出来,应该是断线,既然断线了,L值也应该测不出来,可是现在L值却可以测出来,只是数值差一点.请教这是什么原因造成的?该怎样解决这样的问题?还有一个疑点是:焊点处没有断线,环形CORE上绕线,四线并绕断线的概率也应该很小,对吗
是不是你测试的档不对吧,有点电阻超出一定的范围仪器就不显示了
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