目前用6601调试出现问题，还望大侠帮忙分析下原因！小弟在此谢过·····
PCB是为BP3122方案设计的，用此方案时可靠性已经测试OK了，鉴于成本和合作关系考虑，领导决定用6601方案，因为3122和6601是PIN对PIN，所以我直接就把3122换成了6601，其他参数都没有做任何修改！
测试负载选用的是4串LED灯珠，3122方案出来的电流是310左右，在对外围电路不做修改下6601出来的电流是320左右，大约大10ma。
为了做可靠性试验：上周五就把6601方案装成了7个整灯在60°的高温环境下老化，老化了3天，没有发现任何异常！
今天想把吸收回路去掉看看效果怎么样，去掉吸收后，尖峰毛刺很大，但是在264V电压下,Vds电压也就610V点，所以最后还是觉得不省掉吸收为好，于是为了成本考虑我把吸收的RS1M换成了M7，同时把输出电容10U/25V，换成了4.7U/25V，测试时候输出一切OK。 按照这样我做了7个整灯，去老化，一插电空开跳掉，拆开灯具，IC炸掉2个洞，所有坏了的现象都表现一样！！
我当时以为是M7不能用在高频环境下，于是重新把M7换成RS1M,输出电容还是4.7U/25V， 点灯测试OK, 当时有5个灯并联老化着，最后当把一个灯具插上后，空开又跳掉，这回还导致了其他本来是好的灯具也烧掉，现象也是IC炸掉！！此时电压环境为市电条件·····
结合前面不坏的和今天的试验对比，变量就是输出电容的差异了！！.......
再换回10U/25的试验我没有做了,我觉得输出电容的变化不会导致这样炸机的现象! 想不明白,所以还麻烦大侠们帮忙分析下具体原因....
变压器参数为:EPC13,NP=120T,NS=22T,LP=2.2mH. 感量选择这个参数是因为在110--264V之间电压调整率很好，同时工作频率也在规格书范围，我最初担心这个参数有磁饱和的隐患，但是前期的可靠性试验下来没有发现什么问题！
