半桥, 主变:EE66 串联隔直电容:4.7UF*3只 , 开关管:K1522两只并联 ,输出电感用EC49 做约150UH,
Np:6T NS:7+7T Lp:约600UH
输入:240VAC 2193W 输出89V/21A 效率只有约0.85 初级绕组波形, 每格50V /10US 30KHZ开关频率
这波形不正常啊,开关频率:30KHZ, 是匝数少了吗?
我看。这种波形,一是漏电感偏大,二是存在米勒电容效应,就是一管导通另一管管脉动性地导通了一下,这个也与漏电感有关,驱动也比较快了,就是电压变化率大,即DU/DT.DI/DT,所以是比较危险的,能量小了,如果大了就要爆管了。
我是新一代技术的作者,现在,搞一代硬开关技术非常不划算了,就是成本高效率低,设备大,我国目前普遍用了LLC多谐振技术,但还是老的一代技术了。新的一代技术就是准谐振软开关技术,再高级的技术就是全谐振技术,即硬开关是一二代技术,三代是半软,四代是准软,五代技术就是全软开关技术了。所以,技术的否则就是步步高,一点技术总比上一代技术要高了。
你还在做第一代技术,这个就是非常不好用,最简单的就是其实就是四代准谐振型软开关技术,效率高低成本,高可靠性,小型化,而且就是高懂了,是最实用的技术。开始非常难,就是非常学问的技术,因为国人不在乎学问,所以,就是老问老早就有了,如这个是美国1995年的方面专利,到现近20年了,我国还没有,所以,中国的开关电源技术非常落后,为什么,就是越抄就是越落后,在于学生抄答案,在于就没有学问了,所以,不懂技术原理也就做不成了,就是成了空白了。所以,学问非常重要。
我看变压器的漏电感还是偏大了一点了,如何再减小漏电感的呢,就是,你把初级在中间,这样尽管比两层小了一些,但还是偏大了,告诉你一招,就是不是通常说的三明制,而是五明制,分五层,1,3,5初级,2,4次级,既然7匝,就是一排过去正好7匝,二层与四层双线并绕7匝,3,5两层同一层一样,都是7匝,最后,就是初级一概并联,这样的漏电感就非常 小了,效果非常好,效率提高,谐波减小,RC吸收器可以减小,甚至可以不要,峰值电压一定减小了,我九十年代末在北京时就采用了这个模式,效果非常好,而且,听说,清华大学的那一帮人也是采用这个非常低的漏电感做,他们水平高,懂得用此办法,获得效果是非常好的。
总之,蜜绕的漏电感小,越多层漏电感越小,就是要非常小的话,就是一层初一层次,一层正好头尾了,分好多层,最后,初级次级一概分别并联,这样做的漏电感非常小了,但一定要注意,就是匝数一定要对,容易搞错,差一匝就不行了,这个需要非常注意。这个办法就是绕的变压器的漏电感非常小了,漏电感小有有功夫好处就是效率高谐波小,漏电感大这个形成了电感能量,是产生谐波,环流的原因,谐波是要产生损耗的,所以效率是做不高的。
你的EE型变压器是非常好绕的,按我的做法,可以实现非常小的漏电感,效果是非常好的,不妨一试。
重温这个话题,我做开关电源的过程,就是从硬开关开始的,还是很有经验的,不过,我主要是3525的,494也做过,这个芯片比较稳定,有人用494还做成了llc的,多年我听说清华毕业出来的做电源高了一层初一层次的,若干层,分别并联,这样的漏电感非常小,当然,只要漏电感比较小就可以了,你的同样出现关断尖峰,这个又是怎么造成的呢,我看是关断太快了,就是电流变化率太高了,而且,尖峰不是连续的,所以不是那么均匀,这个与环路有关,由于不是移相型关断的另一种管子马上导通形成钳位,所以就不出现了,这里变化太快了,电感特征就是突变产生尖峰电压,其实,这个尖峰电压是反向开关管导通,就是内部二极管导通了,但这个二极管的速度比较慢,瞬间这个电压高了就是另一只开关管的承受电压也非常高,如果再严重太高的话,另一只管子击穿,导致上下管子也一同坏了,所以爆管了,比如220伏输入电压可以用400伏耐压的,为什么实际不行,要500伏的,有的甚至有了600伏的,其实500伏足够了,太严重就不够了。所以软开关的好,就是没有产生这种现象。还有,开关管上下两点一线并联电容,减小走线电感。
其实,硬开关驱动速度慢一点的好,尽管放大区时间长了一些产生损耗,但可靠性反而更好。还有,加大RC吸收器可以抑制尖峰电压。
为什么很多炸管,为什么耐压选择高一点的,其实,不用的,没有尖峰电压400伏就够了,就是尖峰电压,其二,电压变化率太高还容易产生米勒电容效应,发生共态导通,也要坏了。如果外并联快恢复二极管可以减小这个峰值电压,我试过,但作用不是太大。
其实,过去一些年几乎都是完全硬开关的,假如软开关,选择管子耐压可以滴一些,因为没有峰值,硬开关的耐压必须高一些,就是这么一回事。