伏达半导体无线充电量产老化测试治具/接收测试仪器提供,联系人 张生 17896443630 QQ 894842056
此治具适用于无线充电器测试性能参数,老化测试,简单测试;
1.支持5V,9V自识别,可老化测试5W/7.5W/10W无线充电发射器;
2.支持内部/外部负载可选等功能
上海伏达半导体推出5W/7.5W/10W/15W符合QI认证无线充方案,支持QC2.0/3.0无线快充方案:
NU1300+Nu1006 5W单线圈方案
NU1300+Nu1006*3 5W三线圈方案,自由位置无线充电;
SP3100+Nu1007 10W单线圈方案,支持三星 Phone无线快充;
SP3200+Nu1007*2 10W2线圈方案,支持三星 Phone无线快充;
SP3200+Nu1007 *3 10W三线圈方案,支持三星 Phone无线快充;
SP3400+Nu1007 无线充定频芯片方案,支持三星 Phone无线快充,支持苹果7.5W无线快充
SP3400+Nu1007 *2 2线圈无线充定频芯片方案,支持三星 Phone无线快充,支持苹果7.5W无线快充
NU1500+NU1008 15W EPP协议单线圈方案 ,支持三星 Phone无线快充,支持苹果7.5W无线快充
NU1500+NU1008*3 15W EPP协议3线圈方案 ,支持三星Phone无线快充,支持苹果7.5W无线快充
5W/10W/15W符合QI认证单芯片无线充接收芯片方案NU1605/NU1610,NU1618 ;