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MM1414电路烧MOS分析

本人在使用MM1414设计四节保护电路时候,使用的是datasheet上的典型电路,更改了SEL端子在VCC脚上,使用的MOS是AOD403,在使用测试仪器老化的过程中,存在很多的DO脚上的MOS击穿(GS端和DS都击穿了),但是CO脚的MOS完好!!比例很高,请问各路大虾怎么解释和给点建议,谢过!!!
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xiaowenhui110
LV.3
2
2009-02-19 08:45
???????????/
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脚踏实地
LV.5
3
2009-02-23 23:14
SEL 与VCC直接短路?没有电阻相隔?
0
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xiaowenhui110
LV.3
4
2009-02-24 11:22
@脚踏实地
SEL与VCC直接短路?没有电阻相隔?
做四节的,SEL端子和IC的VCC脚连在一起,否则很容易烧坏IC!!!

但是目前发现小批量生产容易烧DO脚上的MOS,在短路的情况下发生!!!
0
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脚踏实地
LV.5
5
2009-02-28 14:07
@xiaowenhui110
做四节的,SEL端子和IC的VCC脚连在一起,否则很容易烧坏IC!!!但是目前发现小批量生产容易烧DO脚上的MOS,在短路的情况下发生!!!
开始理解错误.因没具体量测信号,建议如下两条:
1.COL pin更改电容值,减小延迟时间.
2.在GS之间加一个MOS,在短路时靠这个MOS来拉高DCHG的电位,从而很快关断DIS MOS,达到短路保护.
以上两点供参考.
0
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