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电源产品高温测试

问题1:在高温箱内,有强迫风循环的情况下,高温条件下测试产品的元器件温度,发现温度比同样条件下常温测到的温度还低.分析原因是高温箱的风循环的影响,在这种情况下该如何测试产品的可靠性?
问题2:环境测试时,环境温度是如何定义的?如何测量?
问题3:在对散热产品进行环境试验时,对高温箱的要求是什么?
问题4:半导体元器件的可靠性如何评估,如集成IC、电源IC等等?
问题5:产品环境可靠性试验测试哪些数据,如元器件的温升?如何判断产品环境可靠性的测试结果是pass与fail?其判断标准是什么?比如是元器件的温度限值?或是产品的寿命?
问题6:对于环境可靠性测试的时候,针对电源产品如何进行加大应力的测试?
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prettyluo
LV.3
2
2009-10-27 08:31
兄台是鄂州人?  满载在高温箱里老化,48小时没问题不就OK了,大多公司都是在有风循环的高温箱老化试验.难得你还能想到这么多..
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edison022
LV.4
3
2009-10-28 14:15
老兄,教你一个方法,放一个基本密闭的纸箱在高温箱内,把电源放于纸箱中测试,环境温度以纸箱中的温度为准,这样风不就吹不到了吗.高温实验当然是测温度数据了,各个器件的温度限制在其datasheet上就应该有,可以查阅.
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lanxue0711
LV.1
4
2009-11-02 22:34
@prettyluo
兄台是鄂州人?  满载在高温箱里老化,48小时没问题不就OK了,大多公司都是在有风循环的高温箱老化试验.难得你还能想到这么多..
谢谢回复!由于测试过程中发现高温箱的风速影响使测试结果偏低很多,所以才会向各位请教的.
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lanxue0711
LV.1
5
2009-11-02 22:35
@edison022
老兄,教你一个方法,放一个基本密闭的纸箱在高温箱内,把电源放于纸箱中测试,环境温度以纸箱中的温度为准,这样风不就吹不到了吗.高温实验当然是测温度数据了,各个器件的温度限制在其datasheet上就应该有,可以查阅.
谢谢兄台的建议,也有了解到有的电源公司会用到此种方法进行测试.但是纸箱的选择有什么依据吗?还有环境温度监测点的位置及数量是否有要求?
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edison022
LV.4
6
2009-11-03 09:49
@lanxue0711
谢谢兄台的建议,也有了解到有的电源公司会用到此种方法进行测试.但是纸箱的选择有什么依据吗?还有环境温度监测点的位置及数量是否有要求?
纸箱的选择不需要什么依据的,因为它就是为了不让风吹到电源而已,环境温度就监测纸箱内就可以,因为到最后纸箱内的温度会趋于平衡的.
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lanxue0711
LV.1
7
2009-11-03 22:05
@edison022
纸箱的选择不需要什么依据的,因为它就是为了不让风吹到电源而已,环境温度就监测纸箱内就可以,因为到最后纸箱内的温度会趋于平衡的.
如果纸箱太小会不会使纸箱内的温度与恒温箱的温度相差很多?在常温下,我有做过类似的试验,纸箱内的温度比纸箱外高了15度左右.而且纸箱太小是不是温度平衡会比较慢?
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edison022
LV.4
8
2009-11-04 17:21
@lanxue0711
如果纸箱太小会不会使纸箱内的温度与恒温箱的温度相差很多?在常温下,我有做过类似的试验,纸箱内的温度比纸箱外高了15度左右.而且纸箱太小是不是温度平衡会比较慢?
一般来说纸箱内的温度会比纸箱外高,所以环境温度要以纸箱内温度为准,由于纸箱是封闭的,所以其内温度平衡是会慢一下,大概1-2个小时吧,正常的.
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zhmin2009
LV.2
9
2009-11-10 05:20
@edison022
一般来说纸箱内的温度会比纸箱外高,所以环境温度要以纸箱内温度为准,由于纸箱是封闭的,所以其内温度平衡是会慢一下,大概1-2个小时吧,正常的.
正规的测试方法是恒温恒湿+预设时间循环.
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