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变压器HI-POT测试60SEC换算成1-3SEC(*1.2倍)的理论依据

变压器制造商为提高HI-POT测试生产效率:
现将5mA/60SEC 3000V改为电压*1.2倍,即算得:
5mA/1-3SEC 3600V
请问这有理论的依据或公式计算方法吗?而且这个是等效的吗?
为什么呢?
请各位指教!
谢谢!
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yuechen
LV.3
2
2005-10-11 12:58
沒有什麼根據,只是行業內部一個共識
為了節省時間,大家默認的,沒有理論可以講的
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scling
LV.4
3
2005-10-11 13:14
@yuechen
沒有什麼根據,只是行業內部一個共識為了節省時間,大家默認的,沒有理論可以講的
如果是这样,就说明它们之间不是等同的,那么在HI-POT测试时就无法保证能全部将NG产品筛选出来喽??
那需要怎样的测试条件能保证全部产生均PASS呢?
请指教!
谢谢!
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yuechen
LV.3
4
2005-10-11 13:26
@scling
如果是这样,就说明它们之间不是等同的,那么在HI-POT测试时就无法保证能全部将NG产品筛选出来喽??那需要怎样的测试条件能保证全部产生均PASS呢?请指教!谢谢!
也不完全這樣,有耐壓不良的還是可以NG出來.在各工廠多年經驗來看還沒有出現你說檢驗不出耐壓不良的產品
一般在做樣品確認時,是采用原電壓,原漏電流,時間為1min
測試單繞組,是采用倍頻倍壓
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scling
LV.4
5
2005-10-11 13:42
@yuechen
也不完全這樣,有耐壓不良的還是可以NG出來.在各工廠多年經驗來看還沒有出現你說檢驗不出耐壓不良的產品一般在做樣品確認時,是采用原電壓,原漏電流,時間為1min測試單繞組,是采用倍頻倍壓
现就是有以下不良现象:
SPEC要求:5MA/60SEC 3000V
变压器生产作业:3MA/3SEC 3600V
未测试出不良产品;
但到客户端产线使用:3MA/3SEC 3200V无不良发生,
但客户端FQC使用:3MA/60SEC 3000V发现有HI-POT不良呢?!
请问这是何原因呢?(就测试条件而论呢?)
请指教!
谢谢!
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yuechen
LV.3
6
2005-10-11 14:04
@scling
现就是有以下不良现象:SPEC要求:5MA/60SEC3000V变压器生产作业:3MA/3SEC3600V未测试出不良产品;但到客户端产线使用:3MA/3SEC3200V无不良发生,但客户端FQC使用:3MA/60SEC3000V发现有HI-POT不良呢?!请问这是何原因呢?(就测试条件而论呢?)请指教!谢谢!
你是什麼類型的變壓器?一般耐電壓做3mA 3000V,要參照VDE絕緣標准來設計變壓器,要做擋牆和漏電絕緣.
你說的問題我們是沒有發生過?如果真如你所說,可能要考慮一下這種方式的運用范圍或者說是適用機種類型,要試驗後才知道
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scling
LV.4
7
2005-10-11 16:28
@yuechen
你是什麼類型的變壓器?一般耐電壓做3mA3000V,要參照VDE絕緣標准來設計變壓器,要做擋牆和漏電絕緣.你說的問題我們是沒有發生過?如果真如你所說,可能要考慮一下這種方式的運用范圍或者說是適用機種類型,要試驗後才知道
谢谢您给出的回复!
我们使用的是传统变压器(高频)
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jacki_wang
LV.11
8
2005-10-11 18:46
印象中60950有讲到这样的测试
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rayx
LV.2
9
2005-10-12 10:49
@scling
现就是有以下不良现象:SPEC要求:5MA/60SEC3000V变压器生产作业:3MA/3SEC3600V未测试出不良产品;但到客户端产线使用:3MA/3SEC3200V无不良发生,但客户端FQC使用:3MA/60SEC3000V发现有HI-POT不良呢?!请问这是何原因呢?(就测试条件而论呢?)请指教!谢谢!
HIPOT本身就是破坏性试验,打的次数越多,不良几率自然越高.没什么奇怪的.
     另外到客户端后,他们的作业环境也会造成一些不良产生
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2005-10-12 16:52
@scling
现就是有以下不良现象:SPEC要求:5MA/60SEC3000V变压器生产作业:3MA/3SEC3600V未测试出不良产品;但到客户端产线使用:3MA/3SEC3200V无不良发生,但客户端FQC使用:3MA/60SEC3000V发现有HI-POT不良呢?!请问这是何原因呢?(就测试条件而论呢?)请指教!谢谢!
这种现象我还是第一次听说.
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scling
LV.4
11
2005-10-13 13:20
@rayx
HIPOT本身就是破坏性试验,打的次数越多,不良几率自然越高.没什么奇怪的.    另外到客户端后,他们的作业环境也会造成一些不良产生
您说的是没有错呢~
现在就是为什么在变压器制程中老是发现不了问题点,(制程也加强改善)
而且在制程中的测试条件也比客户端SPEC中规格加严很多呢~
但到客户端就是会有一到二颗的HI-POT不良~
屡见不鲜呢~~
头很痛喔~
请问要怎样才能杜绝此不良流出呢??
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rayx
LV.2
12
2005-10-15 14:44
@scling
您说的是没有错呢~现在就是为什么在变压器制程中老是发现不了问题点,(制程也加强改善)而且在制程中的测试条件也比客户端SPEC中规格加严很多呢~但到客户端就是会有一到二颗的HI-POT不良~屡见不鲜呢~~头很痛喔~请问要怎样才能杜绝此不良流出呢??
提高安规标准,采用更高绝缘等级设计,或者等级高的材料.当然,材料需要成本.
    另外看看你们的HIPOT测试处于全部制程中那个位置,其后还有那些操作,看看有无可能造成影响.
    其实可能的原因很多,需要具体对待,不能一概而论
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scling
LV.4
13
2005-10-15 16:54
@rayx
提高安规标准,采用更高绝缘等级设计,或者等级高的材料.当然,材料需要成本.    另外看看你们的HIPOT测试处于全部制程中那个位置,其后还有那些操作,看看有无可能造成影响.    其实可能的原因很多,需要具体对待,不能一概而论
谢谢您的回复~
您说的没有错~
我们也有作制程的分析,其HI-POT测试工位是在包装的前一个工位呢~
另外,您所说的提高安规标准,其实我们使用的材料均符合安规要求呢~
如果要提高的话,一定要增加成本呢~ 所以,应该不会提高安规标准啦~

而且,不良也只是1-2PCS,其它均为OK品呢,所以一定在人为或其它问题,只是还没有找到根源问题而已~
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jacki_wang
LV.11
14
2005-10-15 21:15
@scling
谢谢您的回复~您说的没有错~我们也有作制程的分析,其HI-POT测试工位是在包装的前一个工位呢~另外,您所说的提高安规标准,其实我们使用的材料均符合安规要求呢~如果要提高的话,一定要增加成本呢~所以,应该不会提高安规标准啦~而且,不良也只是1-2PCS,其它均为OK品呢,所以一定在人为或其它问题,只是还没有找到根源问题而已~
“其HI-POT测试工位是在包装的前一个工位呢”
你就不怕打坏了就包装出货?
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xiaodong
LV.9
15
2005-10-15 22:05
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scling
LV.4
16
2005-10-17 18:35
@jacki_wang
“其HI-POT测试工位是在包装的前一个工位呢”你就不怕打坏了就包装出货?
那您说要怎样流程呢?有什么好的建议吗?
其实这样流程也是为防止有成型导致HI-POT不良的流出呢?
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jacki_wang
LV.11
17
2005-10-17 20:51
@scling
那您说要怎样流程呢?有什么好的建议吗?其实这样流程也是为防止有成型导致HI-POT不良的流出呢?
打高压后应该进行功能确认
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carfield
LV.1
18
2006-02-15 22:26
@jacki_wang
印象中60950有讲到这样的测试
的确是在哪个标准见过, 1分钟为设计测试, *1.2后测2秒为工厂量产测试.
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fuyuanzhi
LV.2
19
2006-02-16 10:44
這種現象我遇見過,都是有外屏蔽銅箔的産品上,在單機時打不出來,在整機上才會出現HI-POT不良,但有方法可以單機打出來,他的標准也是1.2倍
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麥子
LV.6
20
2006-02-16 13:37
@fuyuanzhi
這種現象我遇見過,都是有外屏蔽銅箔的産品上,在單機時打不出來,在整機上才會出現HI-POT不良,但有方法可以單機打出來,他的標准也是1.2倍
好象是安規有遮方面的要求,為了方便量產,可以將60S的交流測試,加嚴測試為支流1.2倍1S的方法,好象在UL1411或者IEC60950上,有見過,現在忘記了.
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scling
LV.4
21
2006-02-16 13:40
@fuyuanzhi
這種現象我遇見過,都是有外屏蔽銅箔的産品上,在單機時打不出來,在整機上才會出現HI-POT不良,但有方法可以單機打出來,他的標准也是1.2倍
请问那是怎样的测试方法呢?
其它我们的产品几乎都是没有屏蔽铜箔的喔~

但总有这样的不良问题发生呢?
请指教!
谢谢!
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麥子
LV.6
22
2006-02-16 13:51
@scling
请问那是怎样的测试方法呢?其它我们的产品几乎都是没有屏蔽铜箔的喔~但总有这样的不良问题发生呢?请指教!谢谢!
如果1.2倍過了,60S的也應該沒有問題,除非你的Hi-Pot電壓測試已經臨近你的破壞點,不知你們如何定義Hi-Pot?
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sky023
LV.2
23
2006-02-17 22:36
@yuechen
沒有什麼根據,只是行業內部一個共識為了節省時間,大家默認的,沒有理論可以講的
此種測試理念類同變壓器倍頻倍壓測試.
樣品及成品出貨需按規格要求進行檢驗.
如流水線作業按如按其1分鐘測試,將會
過多增加測試設備及人員.
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trans_zsh
LV.2
24
2006-03-17 19:06
@麥子
好象是安規有遮方面的要求,為了方便量產,可以將60S的交流測試,加嚴測試為支流1.2倍1S的方法,好象在UL1411或者IEC60950上,有見過,現在忘記了.
UL1310 第46.2點有講到a 1000V  60秒﹔b 1200V 1秒
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2000ljs
LV.1
25
2006-03-21 13:34
scling 針對你遇到的問題,之前我也曾遇到過! 希望我的方法對你有些幫助¡

    因為我廠的成品都要含浸Varnish,以起到絕緣,防潮,美觀的作用!問題也正是出在這個地方,因我們HI_pot一般都放在成品段,這時候一些耐壓溥弱的地方因為有Varnish起到絕緣的作用,所以給我們造成絕緣良好的假象(有作過實驗驗証),可是到客戶使用過有經過波焊爐,經過高溫后Varnish被破壞后,就出現耐壓不良了!
后續的對策是在未含浸Varnish就進行HI-pot測試,防止不良品流入后段.

   以上如有不清楚請發mail:2000ljs@163.com  或QQ:10379561 請注明所問題!
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scling
LV.4
26
2006-03-23 13:32
@2000ljs
scling針對你遇到的問題,之前我也曾遇到過!希望我的方法對你有些幫助¡    因為我廠的成品都要含浸Varnish,以起到絕緣,防潮,美觀的作用!問題也正是出在這個地方,因我們HI_pot一般都放在成品段,這時候一些耐壓溥弱的地方因為有Varnish起到絕緣的作用,所以給我們造成絕緣良好的假象(有作過實驗驗証),可是到客戶使用過有經過波焊爐,經過高溫后Varnish被破壞后,就出現耐壓不良了!后續的對策是在未含浸Varnish就進行HI-pot測試,防止不良品流入后段.  以上如有不清楚請發mail:2000ljs@163.com  或QQ:10379561請注明所問題!
dear 2000ljs:
谢谢您给出的回复!

关于您提出的对策,我们也有这样的预防.就是HI-POT测试我司会在制程中设立两次测试,一次在半成品(即未含浸前),二次在成品测试后(即包装前).
但还是会有不良品流出.
其中,也对仪器校对、人员加强.
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xxg0007
LV.1
27
2006-03-23 18:41
@trans_zsh
UL1310第46.2點有講到a1000V  60秒﹔b1200V1秒
最近我们也遇到这方面的问题,那位xd有请帖出来我们都看看
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zealliming
LV.1
28
2006-03-24 10:53
@trans_zsh
UL1310第46.2點有講到a1000V  60秒﹔b1200V1秒
可否把UL 1310 贴出来.谢谢
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jbin_jb
LV.6
29
2009-05-13 09:57
@scling
现就是有以下不良现象:SPEC要求:5MA/60SEC3000V变压器生产作业:3MA/3SEC3600V未测试出不良产品;但到客户端产线使用:3MA/3SEC3200V无不良发生,但客户端FQC使用:3MA/60SEC3000V发现有HI-POT不良呢?!请问这是何原因呢?(就测试条件而论呢?)请指教!谢谢!
这很正常,因为你的产线用的电压过低,所以才不能在3秒内检出
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yb2007
LV.6
30
2009-05-17 22:52
@jacki_wang
“其HI-POT测试工位是在包装的前一个工位呢”你就不怕打坏了就包装出货?
支持你的说法..HI-POT工位后应该还有电性能测试才能完全保证啊...不排除会有HI-POT打坏变压器的可能性的...我的产品要求1500V/5mA/1min
我们生产过程中如果1MIN是不合理也是比较费时的.所以采取提高电压.
本身HI-POT就是破坏性的.次数打得越多就有可能出现问题的机率越大.是吧..
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yb2007
LV.6
31
2009-05-17 22:54
@fuyuanzhi
這種現象我遇見過,都是有外屏蔽銅箔的産品上,在單機時打不出來,在整機上才會出現HI-POT不良,但有方法可以單機打出來,他的標准也是1.2倍
是否和线路板上元件有影响??
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