60W电源原因分析，请高手协助解答。。。

1. mos Q110(11A/650V)擊穿，R215/R214 OPEN， PWM IC U210損壞（PIN2 FB短路），確認錫面均無異常狀況，而且維修好後測試零件STRESS降額都符合。請高手幫忙解釋下為何會出現這種失效模式？

2. PWM IC U210單獨損壞（PIN6 SENSE短路）。

以上IC型號是SG6742MRSY，电源是60W，12V/5A，IC以及局部线路如附件，請高手解釋分析下。谢谢

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edie87@163.com

2011-11-15 15:20

木油附件的说

dongyang1217

LV.1

2011-11-15 16:26

@edie87@163.com

木油附件的说

dongyang1217

LV.1

2011-11-15 16:27

@edie87@163.com

木油附件的说

sorry ,如附件！

dongyang1217

LV.1

2011-11-15 16:28

@dongyang1217

sorry,如附件！

edie87@163.com

2011-11-15 16:36

@dongyang1217

[图片] [图片] [图片] [图片]

从原理图上看没问题

你是在什么情况下炸机的,MOS管的温度会不会太高了?

工作频率是多少?VDS是否抖动得厉害?

amonson

LV.8

2011-11-15 18:18

是生产线上单个失效还是在实验室测试？是某个条件必挂还是偶尔来一次？各种输入输出条件的工作波形？关键器件的工作温度？啥都没有，猜都不好猜啊。。。

cheng111

LV.11

2011-11-15 18:59

@dongyang1217

[图片] [图片] [图片] [图片]

IC不用供电嘛？怎么没有看到

dongyang1217

LV.1

2011-11-16 18:35

@amonson

老化环境温度５０度８小时后发生失效，如下是９０Ｖ开机电流波形，请协助！

dongyang1217

LV.1

2011-11-16 18:38

@edie87@163.com

从原理图上看没问题你是在什么情况下炸机的,MOS管的温度会不会太高了?工作频率是多少?VDS是否抖动得厉害?

老化环境温度５０度８小时后发生失效，工作波形还正常，如下是２６４ＶＡＣ输入的波形，

amonson

LV.8

2011-11-16 19:01

@dongyang1217

老化环境温度５０度８小时后发生失效，如下是９０Ｖ开机电流波形，请协助！[图片]

从上面的波形看，驱动电压上升很慢，开关损耗可能比较大，给FET点个温，看看是不是高温下热死了。

cheng111

LV.11

2011-11-16 21:17

@dongyang1217

老化环境温度５０度８小时后发生失效，工作波形还正常，如下是２６４ＶＡＣ输入的波形，[图片]

这个波形很漂亮，是不是温度太集中了。

dongyang1217

LV.1

2011-11-16 21:39

@amonson

从上面的波形看，驱动电压上升很慢，开关损耗可能比较大，给FET点个温，看看是不是高温下热死了。

FET之前有点过温，最高约在83度左右，这个最高SPEC也在150度，这样来看温度对其影响不是很大。

目前较困惑的是：1.单独IC挂了。2.MOS 以及旁临的SENSE电阻也坏，伴随IC也挂。

请帮忙从这失效模式进行分析下。另外可否提供分析思路供参考？急盼，感谢！

amonson

LV.8

2011-11-16 21:50

@dongyang1217

FET之前有点过温，最高约在83度左右，这个最高SPEC也在150度，这样来看温度对其影响不是很大。目前较困惑的是：1.单独IC挂了。2.MOS以及旁临的SENSE电阻也坏，伴随IC也挂。请帮忙从这失效模式进行分析下。另外可否提供分析思路供参考？急盼，感谢！

如果是25度条件下83度，那么50度时就在108度左右了，壳体到内部结点的热阻多少？因为你这个情况看起来最可能的原因就是电感饱和或者FET先死掉造成的问题。磁芯的温度测了没？高温下有没有饱和的风险？如果每次都坏，那么就抓一个损坏瞬间的波形Vds,Vgs,Vsense这几个点都测一下，用单次触发Vsense，触发电平略高于正常工作时的最高点。