本次我们来介绍嵌入式可测试软件设计。
什么是可测试性？就是你这个软件模块/函数接口写完之后，可以较为方便、较为全面地进行自测 。
举个简单的例子来认识可测试性软件。
有一个计算函数cal_func，其计算依赖于存在flash里的数据a，与一个外部输入的数据b。
此时，有如下两种实现方法：
方法一：
int get_a_from_flash(void)
{
int a = 0;
flash_read(&a, sizeof(int));
return a;
}
int cal_func(int b)
{
int res = 0;
int a = get_a_from_flash();
res = a + b;
return res;
}
// 调用
cal_func(5);方法二：
int get_a_from_flash(void)
{
int a = 0;
flash_read(&a, sizeof(int));
return a;
}
int cal_func(int a, int b)
{
int res = 0;
res = a + b;
return res;
}
// 调用
cal_func(get_a_from_flash(), 5);这种类似场景，实际开发中应该有不少，大家平时都是按照方式一写代码还是方式二写代码呢？
从可测试性的角度来看， 方法二的实现，更具备可测试性 。
方式一，因为有一个数据是在函数内部从flash中读取的，所以这个数据我们不太方便进行控制，而能控制的只有参数b。那么，这样子，我们在调用测试时，测得就不是很全，也不能灵活地控制测试路径。
方式二，计算所依赖的数据都通过函数参数留出来了，我们可以很方便地对函数进行测试，可以很方便地输入不同的数据组合。
并且，一般地，我们会引入一些 单元测试框架 ，用来统一管理我们的测试例子。
嵌入式中，常用的测试框架：
- Unity：https://github.com/ThrowTheSwitch/Unity/releases
- cutest：https://sourceforge.net/projects/cutest/
- embunit ：https://sourceforge.net/projects/embunit
- googletest：https://github.com/google/googletest/releases
使用测试框架之后，针对cal_func函数设计的测试代码如：
int ut_cal_func(int argc, char *argv[])
{
if (argc != 3)
{
printf("Param num err\n");
return USAGE;
}
// 预期结果
int expected_res = atoi(argv[2]);
// 实际结果
int res = cal_func(atoi(argv[0]), atoi(argv[1]));
if (expected_res == res)
{
printf("input %d, %d, test pass!\n", atoi(argv[0]), atoi(argv[1]));
}
else
{
printf("input %d, %d, test failed!\n", atoi(argv[0]), atoi(argv[1]));
}
return 0;
}我们封装成串口测试指令：
// 测试路径1
ut app ut_cal_func 1 2 3
// 测试路径2
ut app ut_cal_func 2 3 5
// ...输出：
input 1, 2, test pass!
input 2, 3, test pass!这就是一个可测试性软件设计的一个小例子，通过这个小例子大家应该认识到可测试性软件的好处了吧？
所以，之后写代码，写之前，有必要先想清楚，这个模块最后要怎么进行自测？要测哪些地方？
设计的软件可测试性强，我们就能在开发阶段进行充分地测试，在开发阶段尽可能多地解决一些逻辑上的问题，从而保证更高质量地软件交付。