关于ESD管/TVS管防护选型的资料有很多。根据个人实战加上资料查找，相对比较重要的主要是以下几个方面：
- VBR（击穿电压）:TVS/ESD管开始动作的电压，该电压可能最为常见，但是个人理解，这个数值往往是最难选择的，选择数值不当，可能导致芯片损坏，管子自身击穿损坏。所以该数值需要1.）需要高压产品正常工作电压；2.）小于芯片内部自身会触发的ESD/TVS管保护数值；3.）高于有些EMC实验可能触发的长时间浪涌电压，第3种情况是本文需要着重要讨论的，这种情况可能很多人都没有遇到过，但是我们是必须要考虑的，特别是针对非屏蔽线缆，本文就该问题做一次案例分析。
- IR（漏电流）：顾名思义，管子未击穿时流过的电流，这个主要跟产品的静态功耗有关；
- VCL（钳位电压）：管子击穿后钳位的电压数值
- IPP（峰值电流）：IPP对应VCL，管子击穿后，对应的电流数值。
- CL：寄生电容，这个主要跟信号的速率有关，对于高速信号需要额外注意，根据当前调查经验，通常单向TVS/ESD管子的CL数值会比双向的管子要高，这也给我们需要用到双向管子，又需要考虑CL时带来了一定的挑战。
实验现象：在做BCI测试时，发现如图接口的TVS管损坏，至于怎么发现该TVS管损坏的，这还是在测试信号插损参数时发现的，对比进行过BCI测试的样品，发现测试参数时有的插损数值很好，但是有的相对比较差点。
接口电路类似上图，电路设计需要，两个pin脚都有一颗对地的1MΩ电阻。
实验现象分析：通常情况下，TVS管损坏，无非是功率不满足要求，或者长时间处于VBR，这两种情况都会导致TVS管损坏。
我们对照下面的规格尺寸，发现击穿电压VBR为20V，10/1000us时的VCL为29.2V，Ipp为13.7V，8/20us时的VCL为39.3V，IPP为59A。
对照以上规格参数：
首先从功率角度出发，TVS管最容易损坏的是当IPP不满足要求时，出现损坏，比如ISO7637 5a,5b的实验，当实验内阻很小时，比如最小为0.5R时，我们考虑极端情况下，最高会达到170A以上（此处忽略钳位电压），对照我们此时的TVS管，该管子就存在明显损坏风险。
但是结合当前BCI实验，通常的电流都是mA级别，不会出现TVS管损坏的情况，该类情况可以先忽略。
我们再考虑TVS管长时间工作在过压状态，该电路的工作电压是小于5V，因而电路本身不会导致TVS管损坏，那么我们可以从实验角度出发，我们可以看到由于管脚对地1M电阻的存在，当流过很小的电流的时候，就容易引起很高的电压，进而导致TVS管损坏。为了验证这个猜想，我们去除该pin对地的电阻，测试了几台样机，发现TVS管都会损坏，那么可以将问题定位到电阻上，但是由于电路功能的需要，我们不能去除该电阻。那么只能选择一颗ESD管，通常ESD管的击穿电压都在百V以上，结合电路寄生电容的考虑，选择了一颗ESD管，再多次进行验证，均未出现ESD管损坏。
问题分析到这里，我们 可以做如下总结：
1.VBR的数值通常要求大于正常工作电压，但是需要小于芯片内部ESD管的VBR数值，当该线束是非屏蔽时，VBR的数值需要100V以上，最好选用ESD管；
2.对于屏蔽线束，个人觉得考虑前面两个条件即可，即满足大于电路正常工作，其次满足小于芯片内部自身保护管子的VBR。