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车规芯片认证标准AEC-Q100-H中文版及内容解读(正文部分)
车规芯片认证标准AEC-Q100-J 附录7Mission Profile应用解读
汽车零部件可靠性验证标准ISO16750-1:2023中文版翻译
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汽车零部件可靠性验证标准ISO16750-1:2023中文版翻译

汽车电子领域两大国际标准,车规芯片认证AEC-Q100和汽车电子零部件及系统ISO16750均在2023年进行了版本更新,特别是ISO16750针对新能源车的需求进行了大量内容的升级。

ISO16750共计5个文档,本文对ISO16750的第一个文档进行了翻译和部分解读,也有对应的视频讲解,视频后续单独上传。


本文件由ISO/TC22道路车辆技术委员会SC32电气和电子元件及一般系统分委员会编写。第四版(2023)取消并取代了第三版(ISO 16750-1:2018),并对该版本进行了技术修订。

下文附录B是ISO16750所有文件中唯一出现寿命可靠性试验的描述和案例,关于本案例的具体解读,后续请查看可靠性认证基础系列视频,其中有详细讲解和应用介绍。(编者注)

关于B.3.2.5章节中出现的Coffin-Manson公式,如果不了解的朋友可以参考本作者可靠性试验加速模型系列视频的介绍。


非常感谢大家的阅读,本人将对汽车电子可靠性认证及试验领域知识和技能从理论基础到实践应用,推出汽车电子认证及试验专题,其中包含大量文章及视频,欢迎大家关注并交流,共同促进行业发展。

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