zhangchangyou：
tfy8888老兄,我想要以下标准,可不可以发到我邮箱,谢谢你的无私奉献,如果不行,贴上来,行吗?谢谢您,我的邮箱是zhang_changyou@yahoo.com.cnGB/T11279-1989电子元器件环境试验使用导则 GB/T11461-1989频谱分析仪通用技术条件 GB/T11462-1989频谱分析仪测试方法 GB/T11463-1989电子测量仪器可靠性试验 GB/T11464-1989电子测量仪器术语 GB/T11465-1989电子测量仪器热分布图 GB/T11482-1989交流等离子体显示器件总规范(可供认证用) GB/T11483-1989交流等离子体显示器件测试方法 GB/T11493-1989半导体集成电路外壳空白详细规范GB/T11497.1-1989半导体集成电路CMOS电路系列和品种54/74HC系列的品种 GB/T11497.2-1989半导体集成电路CMOS电路系列和品种54/74HCT系列的品种 GB/T11498-1989膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用)GB/T12084-1989半导体集成电路TTL电路系列和品种54/74F系列的品种 GB/T12114-1989高频信号发生器通用技术条件 GB/T12115-1989高频信号发生器测试方法 GB/T12300-1990功率晶体管安全工作区测试方法GB/T12560-1990半导体器件分立器件分规范(可供认证用) GB/T12561-1990发光二极管空白详细规范(可供认证用) GB/T12562-1990PIN二极管空白详细规范(可供认证用) GB/T12565-1990半导体器件光电子器件分规范(可供认证用) GB/T12750-1991半导体集成电路分规范(不包括混合电路)(可供认证用) GB/T12793-1991电连接器接触件嵌卸工具总规范 GB/T12796-1991永磁铁氧体磁体总规范(可供认证用) GB/T12843-1991半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 GB/T12844-1991半导体集成电路非线性电路系列和品种采样/保持放大器的品种 GB/T12845-1991半导体集成电路非线性电路系列和品种电压/频率和频率/电压转换器的品种 GB/T12846-1991脉冲闸流管总规范(可供认证用) GB/T12856-1991程序设计语言BASIC子集GB/T12992-1991电子设备强迫风冷热特性测试方法 GB/T12993-1991电子设备热性能评定 GB/T13537-1992电子类家用电器用电动机通用技术条件 GB/T13973-1992半导体管特性图示仪通用技术条件 GB/T13974-1992半导体管特性图示仪测试方法 GB/T14025-1992半导体集成电路门阵列电路系列和品种ECL系列的品种 GB/T14026-1992半导体集成电路微型计算机电路系列和品种80C86系列的品种 GB/T14027.1-1992半导体集成电路通信电路系列和品种有源滤波器系列品种 GB/T14027.2-1992半导体集成电路通信电路系列和品种脉码调制编译码器系列品种 GB/T14027.3-1992半导体集成电路通信电路系列和品种模拟开关阵列系列品种 GB/T14027.4-1992半导体集成电路通信电路系列和品种双音多频电路系列品种 GB/T14027.5-1992半导体集成电路通信电路系列和品种电话电路系列品种 GB/T14027.6-1992半导体集成电路通信电路系列和品种频率合成器系列品种 GB/T14027.7-1992半导体集成电路通信电路系列和品种数字交换系统接口电路系列品种 GB/T14028-1992半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14029-1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 GB/T14030-1992半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14031-1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 GB/T14032-1992半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 GB/T14114-1993半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14115-1993半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T14116-1993彩色液晶显示器件的光度和色度的测试方法 GB/T14117-1993彩色液晶显示器件空白详细规范(可供认证用) GB/T14119-1993半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用) GB/T14860-1993通信和电子设备用变压器和电感器总规范 GB/T14862-1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T15151.1-1994频率计数器通用技术条件 GB/T15151.2-1994频率计数器测试方法 GB/T15167-1994半导体激光光源总规范 GB/T15183-1994按能力批准评定质量的电子设备用电源变压器分规范 GB/T15184-1994按能力批准评定质量的电子设备用开关电源变压器分规范 GB/T15272-1994程序设计语言CGB/T15189-1994DOS中文信息处理系统接口规范 GB/T15287-1994抑制射频干扰整件滤波器第一部分:总规范 GB/T15288-1994抑制射频干扰整件滤波器第二部分:分规范试验方法的选择和一般要求 GB/T15289-1994数字存储示波器通用技术条件和测试方法 GB/T15290-1994电子设备用电源变压器和滤波扼流圈总技术条件 GB/T15295-1994电缆分配系统用混合集成电路高频宽带放大器系列和品种 GB/T15297-1994微电路模块机械和气候试验方法 GB/T15637-1995数字多用表校准仪通用技术条件GB/T15649-1995半导体激光二极管空白详细规范 GB/T15650-1995半导体集成电路系列和品种CMOS门阵列电路系列的品种 GB/T15651-1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件 GB/T15652-1995金属氧化物半导体气敏元件总规范 GB/T15653-1995金属氧化物半导体气敏元件测试方法 GB/T15946-1995可程控测量设备的标准数字接口 GB/T16261-1996印制板总规范GB/T16264.5-1996信息技术开放系统互连目录第5部分:协议规范 GB/T16464-1996半导体器件集成电路第1部分：总则GB/T16511-1996电气和电子测量设备随机文件 GB/T16512-1996抑制射频干扰固定电感器第1部分总规范 GB/T16513-1996抑制射频干扰固定电感器第2部分分规范试验方法和一般要求的选择 GB/T16720.1-1996工业自动化系统制造报文规范第1部分：服务定义 GB/T16720.2-1996工业自动化系统制造报文规范第2部分：协议规范 GB/T16720.3-1996工业自动化系统制造报文规范第3部分：机器人伴同标准 GB/T16720.4-1998工业自动化系统制造报文规范第4部分:数值控制用伴同标准 GB/T17023-1997半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第二篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范 GB/T17024-1997半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第三篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范 GB/T17572-1998半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第四篇CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范 GB/T17573-1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则 GB/T17574-1998半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17624.1-1998电磁兼容综述电磁兼容基本术语和定义的应用与解释 GB/T17626.10-1998电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡磁场抗扰度试验 GB/T17626.1-1998电磁兼容试验和测量技术抗扰度试验总论 GB/T17626.12-1998电磁兼容试验和测量技术振荡波抗扰度试验 GB/T17626.2-1998电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T17626.3-1998电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T17626.4-1998电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T17626.6-1998电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T17626.7-1998电磁兼容试验和测量技术供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则 GB/T17626.8-1998电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验 GB/T17626.9-1998电磁兼容试验和测量技术脉冲磁场抗扰度试验 GB/T17645.31-1998工业自动化系统与集成零件库第31部分:实现资源:几何编程接口 GB/T1772-1979电子元器件失效率试验方法 GB/T2036-1994印制电路术语GB/T3431.2-1986半导体集成电路文字符号引出端功能符号 GB/T3435-1987半导体集成CMOS电路系列和品种4000系列的品种 GB/T3436-1996半导体集成电路运算放大器系列和品种 GB/T3437-1982半导体集成电路MOS存储器系列和品种 GB/T3438-1982半导体集成电路双极型存储器系列和品种 GB/T3453-1994数据通信基本型控制规程 GB/T3482-1983电子设备雷击试验方法 GB/T3483-1983电子设备雷击试验导则 GB/T3664-1986电容器非线性测量方法