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MOS管损原因

请问为什么在20A/600V的COOLMOS的G端上(PFC线路上),将电阻改为10欧以下时90V开机会出现损坏现象。请帮忙告知,谢谢。

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sinican
LV.8
2
2013-10-18 15:44

驱动电流太大了

MOS 虽然是电平驱动的元件,但因为半导体工艺的问题,GS 间会存在电容 Qg,MOS 的导通是将 Qg 充至一定电荷以后,才会打开;关断也是将 Qg 放至一定电荷以后才会关断

强驱的结果,不是 MOS 坏,就是 PWM IC 坏;如果你有驱动级的话,多数是 MOS 坏

弱驱的结果,MOS 会经过一个很长的线性区,也会损坏


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zhenxiang
LV.10
3
2013-10-18 20:34
@sinican
驱动电流太大了MOS虽然是电平驱动的元件,但因为半导体工艺的问题,GS间会存在电容Qg,MOS的导通是将Qg充至一定电荷以后,才会打开;关断也是将Qg放至一定电荷以后才会关断强驱的结果,不是MOS坏,就是PWMIC坏;如果你有驱动级的话,多数是MOS坏弱驱的结果,MOS会经过一个很长的线性区,也会损坏
是真的吗?
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2013-11-05 15:14
@zhenxiang
是真的吗?
谢谢。也就是说MOS管G端电阻太小,D.S端上升速率太快导致损坏对吧。但在实验中发现,在Gate端电阻上并联二极管开机也会出现损坏MOS的现象。也是这个道理吧,请指教。
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sinican
LV.8
5
2013-11-05 16:15
@超越幻想
谢谢。也就是说MOS管G端电阻太小,D.S端上升速率太快导致损坏对吧。但在实验中发现,在Gate端电阻上并联二极管开机也会出现损坏MOS的现象。也是这个道理吧,请指教。

基本上是这样, Gate 的 di/dt 上升或下降太快,都会造成损伤

就象电容充电一个原理,如果电流的变化率太大,就会造成电容损坏一样

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2013-11-08 17:37
@sinican
基本上是这样,Gate的di/dt上升或下降太快,都会造成损伤就象电容充电一个原理,如果电流的变化率太大,就会造成电容损坏一样
谢谢。
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abccba
LV.9
7
2013-11-08 17:43
IGmax
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zengtx
LV.6
8
2013-11-12 14:43
@sinican
驱动电流太大了MOS虽然是电平驱动的元件,但因为半导体工艺的问题,GS间会存在电容Qg,MOS的导通是将Qg充至一定电荷以后,才会打开;关断也是将Qg放至一定电荷以后才会关断强驱的结果,不是MOS坏,就是PWMIC坏;如果你有驱动级的话,多数是MOS坏弱驱的结果,MOS会经过一个很长的线性区,也会损坏
驱动电流取多大合适?或者怎么通过驱动波形判断是否全适?我在一款MOS的PDF资料上没看到有IGmax的参数.
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2013-11-13 15:13
MOSFET 是电压控制器件,如果驱动电阻比较小,MOSFET 受控能力减弱;G端驱动电阻有抑制GS 振荡的作用,如果GS振荡过大,VGSP-P超过额定值,GS击穿,MOSFET 失效;最好捉取VDS,VGS,IDS信号波形分析。
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zengtx
LV.6
10
2013-11-14 08:07
@sinican
基本上是这样,Gate的di/dt上升或下降太快,都会造成损伤就象电容充电一个原理,如果电流的变化率太大,就会造成电容损坏一样
问个问题:减小电容充放电电流变化率一般采用什么手段?
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