3楼已经说的比较清楚,一般要综合电源的整体效率,MOSFET温升,电源EMI的因素综合考虑,测试确定;
对于Qg较小,开关速度快得MOS比如超级结,适当增大阻值;对于普通的VDMOS则要适当减小驱动电阻。
如果测量的波形不好,还是要改参数的