照明厂家如何检测薄膜电容

薄膜电容器质量的好坏,直接影响到节能灯、镇流器的质量,因此,如何合理选择和使用薄膜电容,是照明生产商考虑十分谨慎的问题,更是薄膜电容器生产商应承担的责任和义务.

近些年来,节能灯、镇流器在设计上已基本趋于成熟,但产品质量却始终不能保持相对稳定,致使一些照明生产商在检测薄膜电容时走入误区:(1、1kHz测试,损耗≤0.0003;2、3Ur测试耐电压)即不能完全挑出存在隐患的电容,同时也给电容器造成较大损害.

一、   电容器损耗与检测

电容器的损耗由介质损耗和金属部分损耗组成.介质损耗是由介质本身决定,即由介质薄膜的性能——漏导引起的.当使用频率很低时,电容器的损耗主要由介质损耗决定.其值随频率上升而成反比下降.

(漏导:任何电介质都不是理想的绝缘体,在电场的作用下,总有一定的电流流过,这种电流很小,称作漏导电流或漏导.)

金属部分损耗,其公式为:tgδ=ωcRs=2πfcRs(R为电容器等效串联电阻),因而当使用频率很高时,金属部分损耗为主要损耗.Rs由电容器引出线电阻、极板电阻、极板与引出线之间连接引起的接触电阻总和.如果连接不好,接触电阻较大,那么电容器在高频情况下的损耗就很大.使得电容器在高频情况下使用,发热严重,导致损坏.因而使用频率较高时,必须用高频测试,剔除端面接触不良者.尽量消除使用时的潜在危险.而用低频1KHz就不能很好有效地剔除接触不良者.况且,CBB类1KHz损耗指标为≤0.0003,数值偏小,有时测试仪表之间的误差可能达到0.0002.因而,建议对用在使用频率较高的灯上时,至少用10KHz测试,指标≤0.0015,更有把握.

二、   电容器耐压与检测

薄膜电容器介质的厚度是以其额定电压大小来选取的,即介质厚度决定着额定电压的大小,其相互关系见下表:(此处加表)其工作电压,在频率适宜的情况下,一般应不大于额定电压.而瞬时承受电压,即耐电压,按国际国内标准最大测试电压为2倍电压,重复进行耐电压试验对电容器有损伤,因而过高的耐电压超过介质薄膜的承受有力,会损伤介质对电容器也是不利的.经过我们多年的试验,这些潜在的危险,会减少其使用寿命.因而建议客户给出的电容器耐电压指标应不大于2倍.而且在这种条件下,电容器厂家为了更好地保证客户使用,还要高于2倍进行内控,但这些余量我们也是靠增加介质厚度来保证的.如果客户给大于2倍甚至3倍的指标,那我们仍要加严,这样无限制的加下去,对电容器是一种损害,对照明产品也是一种损害,即使当时生产、检测过程中没有体现出来,但是却为日后用户的使用埋下了隐患,这对电容器供应商,照明产品制造商及消费者三方都是不利的.因为我们共同的目标就是满足消费者的使用.

三、   金属化内串电容器与箔式内串电容器的区别

(1)电容器的好坏,除用容量、损耗、绝缘、耐压四个基本参数衡量检测外.它的耐脉冲电压冲击和承受电流大小等性能也是需要考虑的.在灯的电路中使用的电容器这两点更需要注意.鉴于这两点性能的考虑,脚距为10的体积较小的金属化内串不好脚距为15体积较大的箔式内串的结构,因为金属化内串结构的极板与引出的连接端面是介质薄膜,而该连接部位的接触电阻较大,加脉冲时,瞬间流过的电流很大,引起发热,而塑料薄膜介质不耐热,遇热收缩,造成端面接触恶化,使等效串联电阻更大,如此,恶性循环,会很快使薄膜电容失效,而铝箔做端面的肉串结构,端面极板与引出线相连接的部分是金属铝,金属耐热,因而加上脉冲,有大电流流过时,产生的热量不会使其收缩,仍能保证端面良好的接触.所以,从耐脉冲击角度考虑,箔式内串分压结构优于金属化内串结构.

(2)电流流过的路径是极板、接触端面、引出线这几个金属部分及其连接处,在引出线相同,不考虑接触电阻的情况下,金属化电极的电阻要大于箔式电极电阻两个数量级.因为金属化电极是在介质薄膜表面蒸镀上一层薄薄的金属铝,其厚度不过0.05~0.1um.而铝箔的厚度为6um,因而,金属化电极极电阻要远大于箔式电极的电阻,使得金属部分的损耗大于箔式.尤其是频率较高时,在流过电流相同时,金属化电极发热远大于箔式电极.因而使用频率较高、电压较大时,不宜采用金属内串结构的电容.