开关电源比较容易坏的元器件大讨论

若是通過驗證已經量產品,最常壞的是電扇

那馬達一直轉,轉到油甩光就死了約1~3年

沒有風扇就屬電解電容,內部水份蒸發到乾約3~5年

日本有個網站唷,記錄曾經壞過的電容廠牌型號

但是設計中最常壞的是MOSFET與Fuse,立即爆破!!!!

若是開發階段其"非常態操作 Abnormal test"實驗不夠多而炸機多,那麼量產可能會炸機

被內地伺服鎖了嗎?

台灣這可以去的網站有些內地不能去

需要查哪個跟我說,我有空全下載後再Upload上來

贴片电容也很脆弱的。。。

林兄，我认为半导狂人说的有一定道理

引起半导体元件损坏的原因有很多，比如雷击波感应，电网中的浪涌电压，由于布线与分布参数引起的振荡，而造成的电压电流尖峰，电路散热不良而引起的热积累效应，都会使半导体元件损坏

雷击波感应，电网中的浪涌电压比较容易死的是Fuse与Photo (如果已经量产没有设计的话),我的不良分析经验中MOSFET有Repetitive avalanche energy档着,而设计时IC都经过周围电路收掉,只有开发过程中半导体才容易死

量产后若是环境因素造成的不良多半也是电解电容烤干了寿命结束

只有设计不良造成退货才会遇到半导体器件死亡案例

林兄此言差矣

从理论上来说，电源设计时考虑到各种极端情况对电路的损害，加入各种保护电路，调整电路的频响与带宽，并采取补偿措施，再加之各种严酷条件下的测试胡老化，可以获得性能上极其可靠的产品。

但实际的产品并不是这样。首先元器件的一致性是个突出的问题，就目前的生产技术来说，任何厂家都不能保证产品的性能达到完全一致。

其次，生产工艺与过程的控制，有时哪怕是一个小小的锡珠或者松香，都有可能导致这个电源的损坏，从概率上来说，首当其冲的是半导体元件。

再次，用户的误操作原因。

最后，还有一些不可预知的恶劣环境与其他的因素。

举个实例,怀格电源在世界上有首屈一指的品质保证，很多国家的航空航天，甚至导弹上都是使用怀格的电源，这说明他的可靠性是非常有保证的

但是，还是有些怀格电源在使用中损坏，难道说这个电源在设计上有缺陷？或者干脆说设计不良？当然损坏的因素有很多，像林兄说的电解失效也应该是其中一种罢了。

台達電源交Micro soft XBOX遊戲機電源因為機種交很久了,但去年交給個菜鳥RD做延伸設計,使用ST的L6562設計,出問題也不表示台達品質差,但是當時Micro soft不但禁用台達就連光寶同型款因為也是L6562架構,也遭波及

我當時用6Pin IC幫群光電能(高效)電能做到180W給XBOX用,就因為此事而讓客戶得到大單.一直到今天也沒看到不良客訴

這只表示您的舉例與這案例同是一些特殊個案

而我會說電解容易坏只是因為累積的經驗是如此,而別人的經驗我相當尊重,只能說每個人功力不同,所抓餘度有些差異吧.就算我這老頭子頑固,無法認同半導體比電解容易壞

电子电器损坏维修中，70%以上是坏的电源部分

这句话未免就太牵强了吧？

但话说回来，国内很多电器不重视电源可靠性的设计，造成产品的可靠性大打折扣也是事实，国外这个方面远远走在我们前面。