最近看某芯片商在网上很多宣传，如下：
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新标准（欧盟CFL规范2013 stage5）还将CFL灯具的开关次数大幅提高了3倍，从2009年的1万次到2013年的3万次。一旦CFL灯具的开关次数达到规定的数字，其灯丝就会变黑，这灯具就不能用了。提高灯丝开关次数寿命的方法是每次打开开关前先预热灯丝，但这方法只有采用基于IC的驱动方案才能实现，现有的基于分立元件的驱动方案是做不到这点的。
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从他们的宣传上看，似乎到了2013年，做出口的等非要用芯片方案不可，但坛子里也看到的分立器件能做到的开关寿命大于20000次的，为进一步探讨，索性帖出欧盟stage 5性能要求大家看看。
可以对新规范做以下解读：
1、合格率提升；（6000小时失效从50%提升到70%）
2、光衰要求增加；
3、开关寿命延长；（增到大于小时寿命的次数或者3w次）
4、启动时间缩短；
5、早期失效减少；
6、功率因数提高
