AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件。

B组验证是ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS 加速生命周期模拟验证

本文将重点对B组的第2项ELFR - Early Life Failure Rate早期寿命失效率验证项目，一般简称为早夭实验，进行展开讨论。

Early Life Failure Rate - ELFR - 早期寿命失效率

ELFR规范用于评估使用新或未经验证的加工技术或设计规则的产品，是以一种验证早期寿命失效特性的测试方法。包括没有应用或使用经验或通用数据的产品。

如果测试不通过表明需要采取纠正措施，产品可能需要改变加工、设计、老化、更严格的老化设计，或采用统计零件测试来设计极限值(见AEC-Q001)。

表格中信息介绍和解读

表格中的信息给出，ELFR的分类是B2，Notes中包含了H、P、B、N、G也就是说要求密封器件、塑封器件、要求BGA器件、非破坏性测试、承认通用数据。

需求的样品数量是每批次800颗样品，要求来自3个批次；

接受标准就是0失效；

参考文件是AEC Q100-008；

附加需求：

通过此验证的产品可用于其他的压力测试。

通用数据是适用的。

ELFR前后试验要进行室温和高温下的电性能测试。

表格解读：

ELFR早夭实验，是非破坏性的，虽然样品需求量比较大，但是还可以用于其他的项目，而且如果该家族产品接受过早夭验证，这项验证可以选择性的进行。

但是这项实验是需要给产品上电的，参照HTOL的标准进行，所以要制作电路板，这部分电路板后续也可以用于HTOL等其他验证。

下面让我们看一下ELFR的参考文件AEC Q100-008，这是AEC-Q100标准自身的第8个附件。

AEC - Q100-008 REV-A ELFR介绍

适用范围

ELFR早夭验证，此测试方法适用于所有IC部件的认证。在很多产品同时认证的情况下，通用数据(见Q100, 2.3节)也可以用来支撑此验证。如果供应商正在评定一个没有通用数据(未经验证的技术或设计规则)可用于通用的部件，则应利用该测试方法的要求满足Q100的要求。如果供应商为单个用户评定某一产品，该用户可选择指定AEC-Q001的实施作为ELFR的替代。用于这种鉴定的所有产品必须经过Q001测试和用户批准的上下限值的评估。如果使用AEC-Q001，客户应审查和批准用于确定试验限值的特定试验和方法。(注:在ELFR和Q001的失效并不总是显示出1:1的相关性。)

验证流程

• 样品数量的选择

样品量应按Q100的表2规定（800pcs*3lot），如果样品成本太贵，使用这种测试方法的要求和样品大小将基于用户和供应商之间的协议。（也就是验证数量可以和客户商量）

• ELFR流程

这些产品应按照JESD22-A108中的高温工作寿命(HTOL)要求，在以下特殊条件下进行测试。环境测试温度和持续时间应符合以下适用的工作温度等级:

0级:+150ºC 环境温度 48小时；或者+175ºC 环境温度 24小时。

1级:+125℃ 环境温度 48小时；或者+150ºC 环境温度 24小时。

2级:+105ºC 环境温度 48小时；或者+125ºC 环境温度 24小时。

3级:+85ºC 环境温度 48小时；或者+105ºC 环境温度 24小时。

3级:+70ºC 环境温度 48小时；或者+90ºC 环境温度 24小时。

• 接受标准

产品要在高温实验后48小时内进行电性能测试。

测试应在室温下进行，然后是高温。测试期间的失败是不可接受的，如果失效必须采取纠正措施。供应商应将此不符合条件以及已经/将要采取的纠正措施通知所有相关用户。用户必须对将认证的产品所采取的纠正措施予以批准。

• 实验样品的处理

在此测试之后通过电气测试的部件可用于其他非上电工作相关的测试。

如果用户同意，这些样品也可以作为生产原材料供货。

总结

ELFR早夭实验过程比较简单，就是想要发现产品在早期寿命的稳定性，所以实验时间也很短，根据Arrhenius方程算法，在默认0.7eV活化能的情况下，1级标准相当于日常使用3773小时的工作时间，大约连续使用半年时间。

根据电子产品失效的浴盆模型，大多数的电子产品工艺和设计缺陷，会在早期使用过程中暴露出来，这也是早夭验证设置的目的。

本文对AEC-Q100 B组的第2项内容ELFR早夭进行了介绍和解读，希望对大家有所帮助。

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