说一下我的理解：就是铜箔与磁芯直接相连，铜箔焊线接入地点

加大X-cap,对150K左右，会有效。

请教，线屏蔽是怎样的做法？

原因已经找到，是因为某些时刻，buck的工作模式进入了CCM，但不是总在CCM，当CCM的时候，会产生很大的尖刺。我们是不允许其工作在CCM，通过延长关断时间，CCM能够成功避开。通过其它实验也验证了这个原因。

你说的这种情况，按照我的理解应该是展频之后，也能够看到因为毛刺而引起的超标或者余量不够，但是这个毛刺是展频之后会看不到，而且抓QP也很低。不知道我的理解是否正确？

3M和10M测试，都有。目前看到的一个现象是：如果拿掉Y电容引线上套的磁珠，会消失，但不是所有产品都有效。

这个是投影机整机测试的，没有其它东西。我现在就是想知道电源自身是否有可能出现这种情况，或者有哪个前辈测辐射也遇到过类似情况的，最后是怎样解决的。也欢迎打家支招，我可以去尝试。

没有理解，能说详细点吗？

产品可以正常工作，EMC波形也无异常。如果说是干扰，能不能说具体些？

产品已经完成，在做认证。