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flyback加气隙效率问题,请教.

flyback是不是气隙加得越大,效率就越低,为什么?
以下为对比试验条件:
线径一致,电感一致
A原边100ts,1mm气隙,频率70k
B原边200ts,4mm气隙,频率35k
原以为B效率高,因为开关损耗小,但是实际A效率要高.为什么呢?
是气隙太大,磁场分布导致涡流之内的损耗大大增加?
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redhair
LV.5
2
2005-01-07 14:27
会有影响吧,反激式的气隙一般很大,气隙大漏感也容易大吧
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lijb1118
LV.2
3
2005-01-07 14:47
@redhair
会有影响吧,反激式的气隙一般很大,气隙大漏感也容易大吧
气隙大,漏磁大,处在此漏磁范围的线圈铜损增加.另线圈漏感增大,开关损耗加大.故效率降低.
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lijb1118
LV.2
4
2005-01-07 15:11
@lijb1118
气隙大,漏磁大,处在此漏磁范围的线圈铜损增加.另线圈漏感增大,开关损耗加大.故效率降低.
是漏磁惹的祸!因从你提供的数据来看,最大磁感应强度一样.频率降低虽然使磁芯LOSS降低,但线圈涡流LOSS增加,SWICH LOSS 增大.增大量大于减少量故有此结果.你可精心绕制变压器,让线圈避开漏磁区域,以减少线圈涡流LOSS.另还可采用QR技术以改善.
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powerpower
LV.5
5
2005-01-07 18:47
@lijb1118
是漏磁惹的祸!因从你提供的数据来看,最大磁感应强度一样.频率降低虽然使磁芯LOSS降低,但线圈涡流LOSS增加,SWICHLOSS增大.增大量大于减少量故有此结果.你可精心绕制变压器,让线圈避开漏磁区域,以减少线圈涡流LOSS.另还可采用QR技术以改善.
何为QR技术?
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南山居士
LV.5
6
2005-01-08 22:40
气隙大,峰值电流大,开关损耗大,原边匝数多,铜损也大.
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jack721207
LV.4
7
2005-01-28 19:48
@powerpower
何为QR技术?
气隙大不一定效率大吧
你加大气隙初级电感有变化吗
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franc_y
LV.5
8
2005-01-28 23:12
@powerpower
何为QR技术?
准谐振
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kevin.lee
LV.3
9
2005-01-29 10:10
@南山居士
气隙大,峰值电流大,开关损耗大,原边匝数多,铜损也大.
峰值電流大是與電感有關的,不是與GAP成正比的
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