高速数字光耦的开关特性，高速数字光耦或者我们所说的“开关光耦”，其主要特性就是开关特性，也就是开通和关断过程的时间特性，以下是数字光耦HCNW2611的开关特性测试示意图及参数，由于良好的开关特性要求，这类光耦的开关时间相对较小，一般是几十至几百纳秒（ns），HCNW2611是反逻辑光耦。
< 光 耦 开 关 特 性 测 试 电 路 >
以下表中参数，可以看出从输入到输出的传输延时：tPLH和tPLH是相对较小的，PHL表示的是输入为高到输出变低的传输延时，而PLH是输入为低时，输出变为高的过程延时特性；对于上升（tr）和下降（tf）时间参数也是ns级别。
< 高 速 光 耦 开 关 特 性 参 数 >
普通光耦的开关特性，以下是亿光EL817开关特性测试电路以及开关特性参数，相比高速数字光耦，可以看出这类光耦开关时间相对是比较大的，达到us级别，包括延时和信号上升和下降的时间，这里延时时间分别用ton和toff表示，意味着开通延时和关断延时。
< 光 耦 开 关 特 性 测 试 电 路 >
< 普 通 光 耦 开 关 特 性 参 数 >
从可知，高速开关光耦相比普通光耦，开关时间特性更优，通常延时和信号上升和下降是几百ns之内。