考虑到成本,不需要测试每一个电池的负电压和零电压,但是可以考虑测试单个电池的温度(或者两节电池的温度,NTC放在两节中间),通过软件用"或"的关系来终止充电.

Ni—MH充电技术其实是一个极难的技术,但是受到大多数当事人的忽视,由此受到损害的却是公司.往往是负责技术的人觉得我的这个方案不错,但是负责市场的人很有怨言,因为负责市场的人直接与客户打交道,容易感受客户的抱怨.难点如下:1)在各项判断Ni—MH电池充饱的各个方法中,-△V是最准确的,电池的最高电压受环境温度影响,环境温度越高,其最高电压越低,环境温度越低,其最高电压越高,也就是说当你调到某一电压时,冬天充不饱,夏天就过充.最大时间限制,就只能起到保险丝的作用.电池的容量各不同,充电电流也不同,用的久的电池容量就会下降,各个厂家的电芯也不同.2)用温升或△T/△t的方法是不错的方法,但缺点是要是NTC电阻坏了或者不良如何办呢?一般的,温升在8℃到18℃最合适,△T/△t用每分钟1℃~2℃合适(视充电电流与电芯容量比)3)-△V或由此派生的0△V(即在特定的时间内电池电压不上升)为准,但很可惜,Ni-MH的-△V很少,一般为2~8mV/节,这很难检测.一般最大电压1500mV,则单片机分辨率在1500mV/3mV=500,即9bit,考虑到单片机的A/D转换最后一位靠不住,因此一定要10bit的.但是问题在于作为A/D的参考电压的噪音有15mV,如果VDD是5V,则相当于5000/15mV=333大于500(1500mV/3mV),也就是说有用的信号被噪音淹没了.

1126509845.doc

这个ap产品成本虽然便宜,但效率很低.

能否详细介绍一下具体的情况,是电池流量管理还是充电管理出了问题.请发给我的私人邮箱yxhnp@126.com,谢谢了.

不好意思!我们主要是靠这个维持身计的,电路原理图是不能分享得!

这种产品一般是:国内的多采用串联,国外的采用并联方式.

首先向各位网友问好:  本人是一家专业充电方案公司的总工,从事充电技术近8年,我们在Ni-MH电池组上的充电技术有绝对的优势.每月的出货量近500K,我们在四槽充电方案上也有三年半的研发经验,产品基本成熟.其实四槽充电技术是极难的,那些认为大陆技术不错的,这只是给自己一个安慰而已,国外做的完美的就是三洋,国内GP、品新也还可以,其难点如下:㈠．发热问题:AC-DC是发热的,由于单个电池电压低,变压器次边整流用肖特基二极管发热很严重,如果采用同步整流技术,则技术、成本都有问题;后级(独立控制用)开关管也发热,Ni-MH电池到后期也是发热的.一旦电池过早发热,就很难充饱,因为Ni-MH电池的温度特性并不好;㈡．Ni-MH电池的-△很少,单个应在2-6mV之间,理论上应检测的到,但是一般的单片机A/D转换只能取10bit的.10bit以上的单片机成本是个大问题,10bit以下的完全不用考虑.而作为A/D的参考电压,噪音有15mV,在所有判定Ni-MH电池充饱的条件中-△最可靠,温度则存在温度电阻坏的情形,AC/DC发热会扩散,只能做辅助的判定;㈢．独立四槽有三种方法:1.分时充;2.串联;3.假并联.三种方法各有各的优缺点:1.分时充由于电池只有1/4时间有电流,则充电电流是平均电流的4倍.电流越大,电池越发热(2Ah电池加2A电流,电压会到2V.电池中损耗可用近似如下公式来算:V(I=2A)＝2.0V,V(I=0)=1.45V,则P损耗＝{V(I=2A)-V(I=0)}×I=1.1W,此外还有开关管的损耗;2.串联方法发热的问题相对好办些,但考虑每个电池容量不同、特性不同,需要8个开关管来控制,控制回路复杂,CPUROM要长,成本是个问题;3.假并联的难点:因为是并联,每个电芯有差异,电压不完全相同,其分配的每个电池上的电流不完全相同,所以单独判断是否充饱更难.  如果说日本人有什么优势的话,则是日本品牌可以容忍更高的成本.  各位网友,其实要做精一个产品真难.千万不要小看这小玩艺!!!