请问~~~高频电子变压器绕线工艺中,起始线和结束线走线为什么都要打直角?
这是基于什么原理呢?
谢谢各位达人赐教.
新手请教~~~高频电子变压器绕线工艺
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@transformer1
我的理解是建立在打直角與Lk的關係.. 那您的高見呢?
曾经有我的客户问我,我这样说的,如不对,望各位高手提出异议:
1.每一个绕组都斜拉(不打直角),磁芯窗口位置会大:
N1---NX都斜拉,收尾线会在磁芯窗口位置重叠,导致线包大,大家可动手检验.(那一个绕组都有可能造成线包大)
(当然,如果35可以满足设计需要,你用40,不会有此现象发生,哈!)
2.与LK无太大关系:如果绕组一层都是均匀绕制,仅收尾不打直角,我做过试验,安规(加隔离)与非安规产品(无隔离)都一样.
3.与耐压有间接关系:如导致线包大,磁芯装配时可能将麦拉胶带擦破而让磁芯与绕组铜线直接接触导致耐压不良.
总结:
1.耐压不良是致命缺陷,耐压试验本身是破坏性试验,在诸多不良中,此项较难返工.即使不良,也无法检测到此项,只有拆产品,故客户都会要求引出线打直角.
2.打直角,这个规则,对你我有好处.
1.每一个绕组都斜拉(不打直角),磁芯窗口位置会大:
N1---NX都斜拉,收尾线会在磁芯窗口位置重叠,导致线包大,大家可动手检验.(那一个绕组都有可能造成线包大)
(当然,如果35可以满足设计需要,你用40,不会有此现象发生,哈!)
2.与LK无太大关系:如果绕组一层都是均匀绕制,仅收尾不打直角,我做过试验,安规(加隔离)与非安规产品(无隔离)都一样.
3.与耐压有间接关系:如导致线包大,磁芯装配时可能将麦拉胶带擦破而让磁芯与绕组铜线直接接触导致耐压不良.
总结:
1.耐压不良是致命缺陷,耐压试验本身是破坏性试验,在诸多不良中,此项较难返工.即使不良,也无法检测到此项,只有拆产品,故客户都会要求引出线打直角.
2.打直角,这个规则,对你我有好处.
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@viiand
曾经有我的客户问我,我这样说的,如不对,望各位高手提出异议: 1.每一个绕组都斜拉(不打直角),磁芯窗口位置会大:N1---NX都斜拉,收尾线会在磁芯窗口位置重叠,导致线包大,大家可动手检验.(那一个绕组都有可能造成线包大)(当然,如果35可以满足设计需要,你用40,不会有此现象发生,哈!) 2.与LK无太大关系:如果绕组一层都是均匀绕制,仅收尾不打直角,我做过试验,安规(加隔离)与非安规产品(无隔离)都一样. 3.与耐压有间接关系:如导致线包大,磁芯装配时可能将麦拉胶带擦破而让磁芯与绕组铜线直接接触导致耐压不良.总结: 1.耐压不良是致命缺陷,耐压试验本身是破坏性试验,在诸多不良中,此项较难返工.即使不良,也无法检测到此项,只有拆产品,故客户都会要求引出线打直角. 2.打直角,这个规则,对你我有好处.
viiand 兄,對于你的第二點有疑問(其它的贊同)..
請看我第九帖的回復,我們再討論!
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