车充高压测试烧毁芯片问题

如图，正常测试，输入电源通过红线和地接在一起，负载仪直接接到VOUT+和VOUT-之间，Rsen是采样电阻，24V触碰上电正常；

现在客户为了测试方便，直接把输入电源的地和负载的地接到一起，同时接到VOUT-，24V触碰上电，每次触碰几次就把芯片给烧坏了，这个有可能是什么原因？？

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2018-07-17 20:16

这样接是错误的；

芯片的GND和输入电源的地都不接一起了，不烧才怪。

LV.4

2018-07-17 20:17

听课。

LV.6

2018-07-18 11:26

@154600

这样接是错误的；芯片的GND和输入电源的地都不接一起了，不烧才怪。

但是客户就要这么测，测试架做起来很方便，咋搞？

LV.6

2018-07-18 17:53

这样接是不是相当于把Ics的电流感应电阻短路了呢？要是话，不损坏才怪！

LV.6

2018-07-19 23:40

他唯一的过载保护功能被你去掉了，还指望他不坏！

只能呵呵了，，，不表态！

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